Suchergebnisse - Rati, Y.Y.
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Structural and optical studies of (Ag₃AsS₃)₀.₆(As₂S₃)₀.₄ thin films deposited at different technological conditions von Studenyak, I.P., Neimet, Yu.Yu., Rati, Y.Y., Buchuk, M.Yu., Kökényesi, S., Daróci, L., Bohdan, R.
Veröffentlicht in Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2014)Volltext
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