Результати пошуку - Rengevych, O.V.

  • Показ 1 - 2 результатів із 2
Уточнити результати
  1. 1
    Зображення обкладинки

    Visualization of submicron Si-rods by SPR-enhanced total internal reflection microscopy за авторством Rengevych, O.V., Beketov, G.V., Ushenin, Yu.V.

    Отримати повний текст
    Стаття

    Додати у Вибране
    Збережено в:
  2. 2
    Зображення обкладинки

    Separate determination of thickness and optical parameters by surface plasmon resonance: accuracy consideration за авторством Rengevych, O.V., Shirshov, Yu.M., Ushenin, Yu.V, Beketov, A.G.

    Отримати повний текст
    Стаття

    Додати у Вибране
    Збережено в:

Інструменти для пошуку: