Ultrasound effect on radiation damages in boron implanted silicon за авторством Romanjuk, B., Krüger, D., Melnik, V., Popov, V., Olikh, Ya., Soroka, V., Oberemok, O.

Отримати повний текст

Strain relaxation in thin Si₁-ₓ-yGeₓCy layers on Si substrates за авторством Valakh, M.Ya., Gamov, D.V., Dzhagan, V.M., Lytvyn, O.S., Melnik, V.P., Romanjuk, B.M., Popov, V.G., Yukhymchuk, V.O.

Отримати повний текст