Результати пошуку - S. I. Olikhovskij
- Показ 1 - 9 результатів із 9
-
1
New Performance Capabilities of Integral Dynamical Diffractometry of Crystal Imperfections за авторством V. V. Lizunov, V. B. Molodkin, S. I. Olikhovskij, S. V. Lizunova, N. G. Tolmachjov, A. I. Nizkova, E. S. Skakunova, S. V. Dmitriev, B. V. Sheludchenko, Ja. V. Vasilik
Опубліковано 2015Отримати повний текст
Стаття -
2
The Theory of the Dynamical Krivoglaz—Debye—Waller Factor за авторством S. V. Dmitriev, R. V. Lekhnjak, V. B. Molodkin, V. V. Lizunov, L. N. Skapa, E. S. Skakunova, S. V. Lizunova, S. I. Olikhovskij, E. G. Len, N. G. Tolmachjov
Опубліковано 2015Отримати повний текст
Стаття -
3
Theoretical Three-Axes Model of Dynamical Scattering and Formation of Noncrystalline Objects' Image за авторством B. V. Sheludchenko, V. B. Molodkin, S. V. Lizunova, S. I. Olikhovskij, E. N. Kislovskij, Ju. Gaevskij, V. V. Lizunov, A. I. Nizkova, T. P. Vladimirova, V. V. Molodkin
Опубліковано 2014Отримати повний текст
Стаття -
4
The dispersion sensitivity of scattering pattern to defects depending on thickness of crystalline products of nanotechnologies. I. Theoretical model за авторством V. V. Lizunov, E. V. Kochelab, E. S. Skakunova, E. G. Len, V. B. Molodkin, S. I. Olikhovskij, N. G. Tolmachjov, B. V. Sheludchenko, S. V. Lizunova, L. N. Skapa
Опубліковано 2015Отримати повний текст
Стаття -
5
The dispersion sensitivity of scattering pattern to defects depending on thickness of crystalline products of nanotechnologies. II. Numerical experiment за авторством V. V. Lizunov, E. V. Kochelab, E. S. Skakunova, E. G. Len, V. B. Molodkin, S. I. Olikhovskij, N. G. Tolmachjov, B. V. Sheludchenko, S. V. Lizunova, L. N. Skapa
Опубліковано 2015Отримати повний текст
Стаття -
6
The physical nature and new capabilities of use of effects of asymmetry of azimuthal dependence of total integrated intensity of dynamical diffraction for diagnostics of crystals w... за авторством V. B. Molodkin, A. I. Nizkova, E. I. Bogdanov, S. I. Olikhovskij, S. V. Dmitriev, N. G. Tolmachev, V. V. Lizunov, Ja. V. Vasilik, A. G. Karpov, O. G. Vojtok
Опубліковано 2017Отримати повний текст
Стаття -
7
Unique informativity of the diffuse dynamical combined diffractometry of materials and products of nanotechnologies за авторством A. P. Shpak, M. V. Kovalchuk, I. M. Karnaukhov, V. V. Molodkin, E. G. Len, A. I. Nizkova, S. I. Olikhovskij, B. V. Sheludchenko, Dzh. E. Ajs, R. I. Barabash
Опубліковано 2008Отримати повний текст
Стаття -
8
Integral multiparameter diffractometry of nanosystems on the basis of effects of multiplicity of diffuse scattering за авторством A. P. Shpak, M. V. Kovalchuk, V. B. Molodkin, V. L. Nosik, S. V. Dmitriev, E. G. Len, S. I. Olikhovskij, A. I. Nizkova, V. V. Molodkin, E. V. Pervak, A. A. Katasonov, L. I. Ninichuk, A. V. Melnik
Опубліковано 2009Отримати повний текст
Стаття -
9
Basic physics of multiparameter crystallography: diagnostics of defects of several types in single-crystal materials and articles of nanotechnologies за авторством V. B. Molodkin, M. V. Kovalchuk, V. F. Machulin, Kh. Mukhamedzhanov, S. V. Lizunova, S. I. Olikhovskij, E. G. Len, B. V. Sheludchenko, S. V. Dmitriev, E. S. Skakunova, V. V. Molodkin, V. V. Lizunov, V. P. Kladko, E. V. Pervak
Опубліковано 2011Отримати повний текст
Стаття