Determination of fundamental optical constants of Zn₂SnO₄ films за авторством Salohub, A.O., Voznyi, A.A., Klymov, O.V., Safryuk, N.V., Kurbatov, D.I., Opanasyuk, A.S.

Отримати повний текст

X-ray diffraction study of deformation state in InGaN/GaN multilayered structures за авторством Kladko, V.P., Kuchuk, A.V., Safryuk, N.V., Machulin, V.F., Belyaev, A.E., Konakova, R.V., Yavich, B.S.

Отримати повний текст

Structural and electrical-physical properties of the ohmic contacts based on palladium to n⁺ -n-n⁺⁺ -n⁺⁺⁺ -InP за авторством Belyaev, A.E., Boltovets, N.A., Bobyl, A.B., Kladko, V.P., Konakova, R.V., Kudryk, Ya.Ya., Nasyrov, M.U., Sachenko, A.V., Slipokurov, V.S., Slepova, A.S., Safryuk, N.V., Gudymenko, A.I., Shynkarenko, V.V.

Отримати повний текст

Ohmic contacts based on Pd to indium phosphide Gunn diodes за авторством Belyaev, A.E., Boltovets, N.S., Bobyl, A.V., Zorenko, A.V., Arsentiev, I.N., Kladko, V.P., Kovtonyuk, V.M., Konakova, R.V., Kudryk, Ya.Ya., Sachenko, A.V., Slipokurov, V.S., Slepova, A.S., Safryuk, N.V., Gudymenko, A.I., Shynkarenko, V.V.

Отримати повний текст