Influence of elastic deformation on the residual ellipticity of polished optical materials за авторством Maslov, V.P., Sarsembaeva, A.Z., Sizov, F.F.

Отримати повний текст

Ellipsometric control of quality of polished MgF₂ optical ceramics за авторством Maslov, V.P., Sarsembaeva, A.Z., Sizov, F.F.

Отримати повний текст

Erratum: to the paper “Influence of elastic deformation on the residual ellipticity of polished optical materials” за авторством Maslov, V.P., Sarsembaeva, A.Z., Sizov, F.F.

Отримати повний текст

Investigation of cadmium telluride films on silicon substrate за авторством Odarych, V.A., Sarsembaeva, A.Z., Sizov, F.F., Vuichyk, M.V.

Отримати повний текст

Determination of parameters of cadmium telluride films on silicon by the methods of main angle and multiangular ellipsometry за авторством Odarych, V.A., Sarsembaeva, A.Z., Vuichyk, M.V., Sizov, F.F.

Отримати повний текст