Визначення профілів розподілу елементів по глибині приповерхневого шару тонких плівок Ge33As12Se55 за авторством Shchurova, T. N., Savchenko, N. D., Popovic, K. O., Baran, N. Yu.

Отримати повний текст

Depth Profiling of the Near-Surface Layer for Ge33as12se55 Thin Films за авторством Shchurova, T.N., Savchenko, N.D., Popovic, K.O., Baran, N.Yu.

Отримати повний текст

Simulation of the electronic states in the band gap for ZnS: Cu, Cl crystallophosphors за авторством Savchenko, N.D., Shchurova, T.N., Popovych, K.O., Rubish, I.D., Leising, G.

Отримати повний текст