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Харвестер відкритої науки НАН України
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Sghaier, H.
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RHEED digital image analysis system for in-situ growth rate and alloy composition measurements of GaAs-based nanostructures
von
Sghaier, H.
,
Bouzaiene, L.
,
Sfaxi, L.
,
Maaref, H.
Veröffentlicht in
Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
(2004)
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A novel Al₀.₃₃Ga₀.₆₇As/In₀.₁₅Ga₀.₈₅As/GaAs quantum well Hall device grown on (111) GaAs
von
Sghaier, H.
,
Bouzaiene, L.
,
Sfaxi, L.
,
Maaref, H.
Veröffentlicht in
Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
(2012)
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