Результати пошуку - Shliahov, I.

  • Показ 1 - 1 результатів із 1
Уточнити результати
  1. 1
    Зображення обкладинки

    Application features of the electrostatic systems for measuring the secondary electron emission yield за авторством Karpus, S., Shliahov, I., Liashchov, M., Borisenko, V., Kochetov, S., Tsiats’ko, E., Shopen, O.

    Опубліковано в: Problems of Atomic Science and Technology (2023)
    Отримати повний текст
    Стаття

    Додати у Вибране
    Збережено в:

Інструменти для пошуку: