Treffer 1 - 2 von 2 für Suche 'Shustov, Yu. M.' Weiter zum Inhalt
VuFind
  • Ihr Konto
  • Log out
  • Login
  • Sprache
    • English
    • Deutsch
    • Українська

Харвестер відкритої науки НАН України

Erweitert
  • Verfasser
  • Shustov, Yu. M.
Treffer 1 - 2 von 2 für Suche 'Shustov, Yu. M.', Suchdauer: 0,00s Treffer weiter einschränken
  1. 1
    Вли­я­ние об­лу­че­ния кре­м­ния ни­з­ко­энер­ге­ти­че­ски­ми ио­на­ми ар­го­на на об­ра­зо­ва­ние в нем элек­три­че­ски ак­тив­ных де­фек­тов
    Вли­я­ние об­лу­че­ния кре­м­ния ни­з­ко­энер­ге­ти­че­ски­ми ио­на­ми ар­го­на на об­ра­зо­ва­ние в нем элек­три­че­ски ак­тив­ных де­фек­тов...
    von Popov, V. M., Shustov, Yu. M., Klimenko, A. S., Pokanevich, A. P.
    Veröffentlicht 2009
    Volltext
    Artikel
    Zu den Favoriten
    Gespeichert in:
  2. 2
    Ртутный микрозонд для исследования локальных электрофизических свойств полупроводниковых структур
    Ртутный микрозонд для исследования локальных электрофизических свойств полупроводниковых структур...
    von Popov, V. M., Klimenko, A. S., Pokanevich, A. P., Shustov, Yu. M.
    Veröffentlicht 2010
    Volltext
    Artikel
    Zu den Favoriten
    Gespeichert in:
Suchwerkzeuge: RSS-Feed abonnieren – Diese Suche als E-Mail versenden

Ähnliche Schlagworte

electrically active defects электрически активные дефекты MIS structure Schottky diodes capacity-voltage characteristic ion irradiation mechanical stresses mercury probe photosensitivity scanning electron microscopy silicon МДП-структуры вольт-фарадные характеристики диоды Шоттки кремний механические напряжения облучение ионами растровая электронная микроскопия ртутный зонд фо­то­чув­ст­ви­тельность

Suchoptionen

  • Suchhistorie
  • Erweiterte Suche

Weitere Suchoptionen

  • Katalog durchstöbern
  • Alphabetisch durchstöbern
  • Inhalte erkunden
  • Neuerscheinungen

Hilfe

  • Suchtipps
  • Häufig gestellte Fragen

Статистика

Pdf Flag Counter