Search Results - Shustov, Yu. M.
Related Subjects
electrically active defects
электрически активные дефекты
MIS structure
Schottky diodes
capacity-voltage characteristic
ion irradiation
mechanical stresses
mercury probe
photosensitivity
scanning electron microscopy
silicon
МДП-структуры
вольт-фарадные характеристики
диоды Шоттки
кремний
механические напряжения
облучение ионами
растровая электронная микроскопия
ртутный зонд
фоточувствительность