Результати пошуку - Shustov, Yu. M.
- Показ 1 - 2 результатів із 2
-
1
Ртутный микрозонд для исследования локальных электрофизических свойств полупроводниковых структур... за авторством Popov, V. M., Klimenko, A. S., Pokanevich, A. P., Shustov, Yu. M.
Опубліковано 2010Отримати повний текст
Стаття -
2
Інструменти для пошуку:
Пов'язані теми
electrically active defects
электрически активные дефекты
MIS structure
Schottky diodes
capacity-voltage characteristic
ion irradiation
mechanical stresses
mercury probe
photosensitivity
scanning electron microscopy
silicon
МДП-структуры
вольт-фарадные характеристики
диоды Шоттки
кремний
механические напряжения
облучение ионами
растровая электронная микроскопия
ртутный зонд
фоточувствительность