Показ
1 - 2
результатів із
2
для пошуку '
Shustov, Yu. M.
'
Перейти до змісту
VuFind
Ваш обліковий запис
Вихід
Логін
Мова
English
Deutsch
Українська
Харвестер відкритої науки НАН України
Всі поля
Назва
Назва журналу
Автор
Предмет
Опис
Тег
Full text
Знайти
Розширений
Автор
Shustov, Yu. M.
Показ
1 - 2
результатів із
2
для пошуку '
Shustov, Yu. M.
'
, час виконання запиту: 0.00сек.
Уточнити результати
Сортувати
Релевантність
Дата у спадаючому порядку
Дата у зростаючому порядку
Шифр
Автор
Назва
Вибрати сторінку | з відміченими:
Е-пошта
Експорт
Друк
Зберегти
Вибрати результат під номером 1
1
Влияние облучения кремния низкоэнергетическими ионами аргона на образование в нем электрически активных дефектов...
за авторством
Popov, V. M.
,
Shustov, Yu. M.
,
Klimenko, A. S.
,
Pokanevich, A. P.
Опубліковано 2009
Отримати повний текст
Стаття
Додати у Вибране
Збережено в:
Вибрати результат під номером 2
2
Ртутный микрозонд для исследования локальных электрофизических свойств полупроводниковых структур...
за авторством
Popov, V. M.
,
Klimenko, A. S.
,
Pokanevich, A. P.
,
Shustov, Yu. M.
Опубліковано 2010
Отримати повний текст
Стаття
Додати у Вибране
Збережено в:
Вибрати сторінку | з відміченими:
Е-пошта
Експорт
Друк
Зберегти
Інструменти для пошуку:
Отримати RSS-стрічку
–
Відправити пошук е-поштою
Пов'язані теми
electrically active defects
электрически активные дефекты
MIS structure
Schottky diodes
capacity-voltage characteristic
ion irradiation
mechanical stresses
mercury probe
photosensitivity
scanning electron microscopy
silicon
МДП-структуры
вольт-фарадные характеристики
диоды Шоттки
кремний
механические напряжения
облучение ионами
растровая электронная микроскопия
ртутный зонд
фоточувствительность