Харвестер відкритої науки НАН України

Angular dependences of ellipsometric parameters of thin Cr and Ti films under surface polariton excitation

за авторством Shybiko, Ya.A., Shaykevich, I.A., Melnichenko, L.Yu.
Опубліковано в: Functional Materials (2006)

Ellipsometric plasmon sensor for adsorbed layers on thin Ag and Au films

за авторством Severynov, V.L., Shaikevich, I.A., Shybiko, Y.A.
Опубліковано в: Functional Materials (2005)