Suchergebnisse - Shybiko, Ya.A.

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    Ellipsometric plasmon sensor for adsorbed layers on thin Ag and Au films von Severynov, V.L., Shaikevich, I.A., Shybiko, Y.A.

    Veröffentlicht in Functional Materials (2005)
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    Angular dependences of ellipsometric parameters of thin Cr and Ti films under surface polariton excitation von Shybiko, Ya.A., Shaykevich, I.A., Melnichenko, L.Yu.

    Veröffentlicht in Functional Materials (2006)
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