Результати пошуку автора :: Harvester open publications of NAS Ukraine

Вибрати результат під номером 1
1

The test generation of digital sequential circuits with the multiple observation time strategy

за авторством Skobtsov, V.Y., Rakhman, Al Tal Abdel
Опубліковано в: Труды Института прикладной математики и механики (2012)

Отримати повний текст

Стаття

Додати у Вибране

Збережено в: