Результати пошуку - Slobodyan, N.V.

  • Показ 1 - 1 результатів із 1
Уточнити результати
  1. 1
    Зображення обкладинки

    Simulation of radiation characteristics of pulse X-ray devices for non-destructive testing the semiconductor materials за авторством Denbnovetsky, S.V., Slobodyan, N.V.

    Отримати повний текст
    Стаття

    Додати у Вибране
    Збережено в:

Інструменти для пошуку: