МОДЕЛЮВАННЯ МІКРОХОЛОДИЛЬНИКІВ З ЕФЕКТОМ ДЖОУЛЯ–ТОМСОНА за авторством Krukovsky, P.G., Tkach, V.M.

Отримати повний текст

Polarization conversion effect in obliquely deposited SiOx films за авторством Sopinskyy, M.V., Indutnyi, I.Z., Michailovska, K.V., Shepeliavyi, P.E., Tkach, V.M.

Отримати повний текст

Comprehensive investigation of defects in highly perfect silicon single crystals за авторством Prokopenko, I.V., Kislovskii, E.N., Olikhovskii, S.I., Tkach, V.M., Lytvyn, P.M., Vladimirova, T.P.

Отримати повний текст

Micropatterning in bistable cholesteric device with Bragg's reflection за авторством Gritsenko, M.I., Kucheev, S.I., Lytvyn, P.M., Tishenko, V.G., Tkach, V.M., Yelshansky, V.B.

Отримати повний текст

Features of structural changes in mosaic Ge:Sb according to X-ray diffractometry and electron backscatter diffraction data за авторством Borcha, M.D., Solodkyi, M.S., Balovsyak, S.V., Tkach, V.M., Hutsuliak, I.I., Kuzmin, A.R., Tkach, O.O., Kladko, V.P., Gudymenko, O.Yo., Liubchenko, О.І., Swiatek, Z.

Отримати повний текст