Харвестер відкритої науки НАН України

Divergent-beam X-ray structural studies of a disturbed surface layer in silicon plates

за авторством Tkach, V.N.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2002)

Changes in nanostructure and micro-plastic properties of silicon crystals under action of magnetic fields

за авторством Steblenko, L.P., Kurylyuk, A.N., Koplak, O.V., Krit, O.N., Tkach, V.N., Naumenko, S.N.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2010)