Search Results - Tretyak, O.V.
- Showing 1 - 7 results of 7
-
1
-
2
Synthesis of charged silica films of porous structure by Zharkikh, Yu.S., Lysochenko, S.V., Pylypenko, O.A., Tretyak, O.V.
Published in Functional Materials (2008)Get full text
Article -
3
-
4
-
5
-
6
-
7
Electrical properties of semiconductor structures with Si nanoclusters in SiO₂ grown by high temperature annealing technology of SiOx layer, X<2 by Bunak, S.V., Buyanin, A.A., Ilchenko, V.V., Marin, V.V., Melnik, V.P., Khacevich, I.M., Tretyak, O.V., Shkavro, A.G.
Published in Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2010)Get full text
Article
Search Tools:
Related Subjects
Technology
current pulse heating
deep levels
impurity and defect centers
minority carrier lifetime
p –n junction
p –n-перехід
recombination centers
relaxation spectrometer
semiconductor diode
глубокие уровни
напівпровідниковий діод
примесные и дефектные центры
релаксационный спектрометр
центри рекомбінації
час життя неосновних носіїв
імпульсне нагрівання струмом