Effective thickness of the planar detector in measurements of electrons energy loss за авторством Deiev, O.S., Kiprich, S.K., Vasilyev, G.P., Yalovenko, V.I., Ovchinnik, V.D., Shulika, M.Y.

Отримати повний текст

Development of technique for testing the long-term stability of silicon microstrip detectors за авторством Kosinov, A.V., Maslov, N. I., Naumov, S. V., Ovchinni, V. D., Starodubtsev, A. F., Vasilyev, G. P., Yalovenko, V. I., Bosisio, L.

Отримати повний текст

Temperature dependence of the energy resolution and leakage current of the planar silicone detectors за авторством Deiev, O.S., Maslov, N.I., Ovchinnik, V.D., Potin, S.M., Shulika, M.Y., Vasilyev, G.P., Voloshyn, V.K., Yalovenko, V.I.

Отримати повний текст