Показ 1 - 20 результатів із 26 для пошуку 'Venger, E. F.', час виконання запиту: 0.08сек. Уточнити результати
  1. 1
    On the dielectric approximation in the additional light waves theory: an historical rehabilitation (recovery)
    за авторством Piskovoi, V.N., Venger, E.F.
    Опубліковано 2015
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  2. 2
    Дослiдження фотовольтаїчних i оптичних властивостей самоорганiзованих органiчно-неорганiчних гiбридiв на основi ароматичних сполук та патерного кремнiю
    за авторством Gorbach, T. Ya., Smertenko, P. S., Venger, E. F.
    Опубліковано 2018
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  3. 3
    Resonance generation of sum harmonic in static electric field
    за авторством Venger, E.F., Griban, V.M., Melnichuk, A.V.
    Опубліковано 1999
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  4. 4
    Development of the physical insight into the nature of the factors that control electrophysical and other properties of semiconductors
    за авторством Baranskii, P.I., Babich, V.M., Venger, E.F.
    Опубліковано 2001
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  5. 5
    The features of phonon component of linear dichroism in uniaxially strained silicon crystals
    за авторством Serdega, B.K., Venger, E.F., Matyash, I.E.
    Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2003)
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  6. 6
    About manifestation of the piezojunction effect in diode temperature sensors
    за авторством Borblik, V.L., Shwarts, Yu.M., Venger, E.F.
    Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2003)
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  7. 7
    Дослiдження методами ІЧ-спектроскопiї тонких плiвок оксиду цинку, вирощених методом АПО
    за авторством Venger, E. F., Melnichuk, L. Yu., Melnichuk, A. V., Semikina, T. V.
    Опубліковано 2019
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  8. 8
    Analysis of the fundamental absorption edge of the films obtained from the C₆₀ fullerene molecular beam in vacuum and effect of internal mechanical stresses on it
    за авторством Kolyadina, E.Yu., Matveeva, L.A., Neluba, P.L., Venger, E.F.
    Опубліковано 2015
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  9. 9
    Peculiarities of injection phenomena in heavily doped silicon structures and development of radiation-resistant diode temperature sensors
    за авторством Shwarts, Yu.M., Sokolov, V.N., Shwarts, M.M., Venger, E.F.
    Опубліковано 2003
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  10. 10
    Effect of oxidation of catalytically active silicon-based electrodes on water decomposition
    за авторством Primachenko, V.E., Serba, O.A., Chernobai, V.A., Venger, E.F.
    Опубліковано 2007
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  11. 11
    Influence of some physico-chemical factors on properties of electrodes that decompose water catalytically
    за авторством Primachenko, V.E., Serba, O.A., Chernobai, V.A., Venger, E.F.
    Опубліковано 2007
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  12. 12
    Electron states at the Si–SiO₂ boundary (Review)
    за авторством Primachenko, V.E., Kirillova, S.I., Venger, E.F., Chernobai, V.A.
    Опубліковано 2005
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  13. 13
    Electronic properties of silicon surface at different oxide film conditions
    за авторством Kirillova, S.I., Primachenko, V.E., Venger, E.F., Chernobai, V.A.
    Опубліковано 2001
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  14. 14
    Synthesis and properties of semiconductor solid solutions (inSb)₁₋x(CdTe)x
    за авторством Venger, E.F., Knorozok, L.M., Melnichuk, L.Yu., Melnichuk, O.V.
    Опубліковано 2006
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  15. 15
    Получение, свойства и применение тонких нанонеоднородных пленок Ge на GaAs-подложках
    за авторством Venger, E. F., Lytvyn, P. M., Matveeva, L. A., Mitin, V. F., Kholevchuk, V. V.
    Опубліковано 2014
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  16. 16
    Electroreflectance spectroscopy and scanning electron microscopy study of microrelief silicon wafers with various surface pretreatments
    за авторством Gorbach, T.Ya., Holiney, R.Yu., Matiyuk, I.M., Matveeva, L.A., Svechnikov, S.V., Venger, E.F.
    Опубліковано 1998
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  17. 17
    Biochemical passivation of metal surfaces for sensor application: reactive annealing of polycrystalline gold films in hydrogen sulfide atmosphere
    за авторством Snopok, B. A., Kostyukevych, K.V., Beketov, G.V., Zinio, S.A., Shirshov, Yu.M., Venger, E.F.
    Опубліковано 2000
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  18. 18
    Фонон-поляритонні збудження в структурах MgZnO/6H-SiC
    за авторством Melnichuk, O. V., Melnichuk, L. Yu., Korsunska, N. O., Khomenkova, L. Yu., Venger, E. F., Venger, I. V.
    Опубліковано 2020
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  19. 19
    Probing plasmonic system by the simultaneous measurement of Raman and fluorescence signals of dye molecules
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  20. 20
    Zn and Mn impurity effect on electron and luminescent properties of porous silicon
    за авторством Primachenko, V.E, Kirillova, S.I., Manoilov, E.G., Kizyak, I.M., Bulakh, B.M., Chernobai, V.A., Venger, E.F.
    Опубліковано 2005
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
Інструменти для пошуку: Отримати RSS-стрічку – Відправити пошук е-поштою