Результати пошуку - Venger, E. F.
- Показ 1 - 20 результатів із 49
- На наступну сторінку
-
1
-
2
-
3
About manifestation of the piezojunction effect in diode temperature sensors за авторством Borblik, V.L., Shwarts, Yu.M., Venger, E.F.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2003)Отримати повний текст
Стаття -
4
-
5
Development of the physical insight into the nature of the factors that control electrophysical and other properties of semiconductors за авторством Baranskii, P.I., Babich, V.M., Venger, E.F.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2001)Отримати повний текст
Стаття -
6
Resonance generation of sum harmonic in static electric field за авторством Venger, E.F., Griban, V.M., Melnichuk, A.V.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (1999)Отримати повний текст
Стаття -
7
Investigation of the undersurface damaged layers in silicon wafers за авторством Holiney, R.Yu., Matveeva, L.A., Venger, E.F.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (1999)Отримати повний текст
Стаття -
8
-
9
Effect of mechanical stress on operation of diode temperature sensors за авторством Borblik, V.L., Shwarts, Yu.M., Venger, E.F.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2002)Отримати повний текст
Стаття -
10
Дослiдження методами ІЧ-спектроскопiї тонких плiвок оксиду цинку, вирощених методом АПО за авторством Venger, E. F., Melnichuk, L. Yu., Melnichuk, A. V., Semikina, T. V.
Опубліковано 2019
Отримати повний текст
Стаття -
11
-
12
-
13
-
14
Peculiarities of injection phenomena in heavily doped silicon structures and development of radiation-resistant diode temperature sensors за авторством Shwarts, Yu.M., Sokolov, V.N., Shwarts, M.M., Venger, E.F.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2003)Отримати повний текст
Стаття -
15
Effect of strong magnetic field on surface polaritons in ZnO за авторством Venger, E.F., Ievtushenko, A.I., Melnichuk, L.Yu., Melnichuk, O.V.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2010)Отримати повний текст
Стаття -
16
Investigation of ZnO single crystals subjected to a high uniform magnetic field in the IR spectral range за авторством Venger, E.F., Evtushenko, A.I., Melnichuk, L.Yu., Melnichuk, O.V.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2008)Отримати повний текст
Стаття -
17
-
18
-
19
Some features of two-photon absorption in static electric field за авторством Griban, V.M., Melnichuk, O.V., Ovander, L.M., Venger, E.F.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2000)Отримати повний текст
Стаття -
20
Інструменти для пошуку:
Пов'язані теми
-
Ge films
IR spectroscopy
IЧ-спектроскопiя
MgxZn1−xO
Optics
Sensors
aromatic drugs
clonidine hydrochloride
disturbed total internal reflection
electronic and optical properties
growth rate
infrared spectroscopy
intrinsic mechanical stresses
magnesium oxide
optical microscopy
patterned silicon
photovoltaic and photoluminescence characteristics
procainamide hydrochloride
scanning electron microscopy
silicon carbide
surface morphology
surface plasmon-phonon polaritons
surface polaritons
undoped conducting ZnO films
zinc oxide
внутренние механические напряжения
карбiд кремнiю
метод порушеного повного внутрiшнього вiдбивання
морфология поверхности