Suchergebnisse - Wang, C.P.

  • Treffer 1 - 1 von 1
Treffer weiter einschränken
  1. 1
    Buchumschlag

    Electron Backscatter Diffraction Analysis of the Microstructure Fineness in Pure Copper under Torsional Deformation von Wang, C.P., Fan, J.K., Li, F.G., Liu, J.C.

    Veröffentlicht in Проблемы прочности (2018)
    Volltext
    Artikel

    Zu den Favoriten
    Gespeichert in:

Suchwerkzeuge: