Результати пошуку - Wang, C.P.

  • Показ 1 - 1 результатів із 1
Уточнити результати
  1. 1
    Зображення обкладинки

    Electron Backscatter Diffraction Analysis of the Microstructure Fineness in Pure Copper under Torsional Deformation за авторством Wang, C.P., Fan, J.K., Li, F.G., Liu, J.C.

    Опубліковано в: Проблемы прочности (2018)
    Отримати повний текст
    Стаття

    Додати у Вибране
    Збережено в:

Інструменти для пошуку: