Scanning Tunneling Microscopy/Spectroscopy and Low-Energy Electron Diffraction Investigations of GaTe Layered Crystal Cleavage Surface за авторством Galiy, P., Nenchuk, T., Ciszewski, A., Mazur, P., Zuber, S., Yarovets, I.

Отримати повний текст

Структурнi дослiдження поверхонь сколювання (100) шаруватих кристалiв In4Se3 методом дифракцiї повiльних електронiв... за авторством Galiy, P. V., Losovyj, Ya. B., Nenchuk, T. M., Yarovets’, I. R.

Отримати повний текст

Исследование гетеронаносистем металл–полупроводник NixInSe (0001) за авторством Galiy, P.V., Nenchuk, T.M., Ciszewski, A., Mazur, P., Yarovets’, I.R., Dveriy, O.R.

Отримати повний текст

Structural Aspect of Formation of a Nanosystem of In/In₄Se₃ (100) за авторством Galiy, P.V., Mazur, P., Ciszewski, A., Nenchuk, T.M., Yarovets’, I.R., Dveriy, O.R.

Отримати повний текст