Результати пошуку - Yukhymchuk, V.О.
- Показ 1 - 1 результатів із 1
-
1
Structural properties of nanocomposite SiO₂(Si) films obtained by ion-plasma sputtering and thermal annealing за авторством Bratus, O.L., Evtukh, A.A., Lytvyn, O.S., Voitovych, M.V., Yukhymchuk, V.О.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2011)Отримати повний текст
Стаття