Результати пошуку - Yukhymchuk, V.О.
- Показ 1 - 2 результатів із 2
-
1
Structural properties of nanocomposite SiO₂(Si) films obtained by ion-plasma sputtering and thermal annealing за авторством Bratus, O.L., Evtukh, A.A., Lytvyn, O.S., Voitovych, M.V., Yukhymchuk, V.О.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2011)Отримати повний текст
Стаття -
2
Properties of nanosized ZnO:Ho films deposited using explosive evaporation за авторством Kаsumov, А.М., Strelchuk, V.V., Kolomys, О.F., Bykov, О.І., Yukhymchuk, V.О., Zahornyi, М.М., Kоrotkov, K.А., Kаravaieva, V.М., Kоrychev, S.F., Ievtushenko, А.І.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2021)Отримати повний текст
Стаття