Suchergebnisse - Zavalistyi, O. I.
- Treffer 1 - 2 von 2
-
1
Еліпсометрична діагностика поверхневого шару оптичного скла von Makarenko, O. V., Poperenko, L. V., Zavalistyi, O. I., Yampolskiy, A. L.
Veröffentlicht 2019
Volltext
Artikel -
2
Структура окисної плівки на поверхні поруватого кремнію von Zavalistyi, O. I., Makarenko, O. V., Odarych, V. A., Yampolskyi, A. L.
Veröffentlicht 2020
Volltext
Artikel
Suchwerkzeuge:
Ähnliche Schlagworte
-
CIE standard illuminant D65
Fresnel equations
color coordinates
color matching functions (CMF)
differential evolution method
ellipsometry
glass
inhomogeneous layer
optical profile
porous silicon
the CIELAB color space
елiпсометрiя
колiрний простiр Lab
координати колiрностi
метод диференцiйної еволюцiї
неоднорiдний шар
оптичний профiль
поруватий кремнiй
скло
спiввiдношення Френеля
стандартний освiтлювач D65
функцiї змiшування кольорiв