Influence of a single defect on the conductance of a tunnel point contact between a normal metal and a superconductor за авторством Avotina, Ye.S., Kolesnichenko, Yu.A., van Ruitenbeek, J.M.

Отримати повний текст

Conductance of a STM contact on the surface of a thin film за авторством Khotkevych, N.V., Kolesnichenko, Yu.A., van Ruitenbeek, J.M.

Отримати повний текст

Quantum interference effects in a system of two tunnel point-contacts in the presence of single scatterer: simulation of a double-tip STM experiment за авторством Khotkevych, N.V., Kolesnichenko, Yu.A., van Ruitenbeek, J.M.

Отримати повний текст

Inhomogeneous broadening of the conductance histograms for molecular junctions за авторством Bopp, J.M., Tewari, S., Sabater, C., van Ruitenbeek, J.M.

Отримати повний текст

Conductance of a tunnel point contact of noble metals in the presence of a single defect за авторством Avotina, Ye.S., Kolesnichenko, Yu.A., Roobol, S.B., van Ruitenbeek, J.M.

Отримати повний текст

Point-contact-spectroscopy investigation of the Kondo size effect in CuCr and AuFe alloys за авторством Fisun, V.V., Yanson, I.K., Mydosh, J.A., van Ruitenbeek, J.M.

Отримати повний текст

Микроконтактные исследования размерного эффекта Кондо в магнитном поле на сплавах CuMn, CuCr и AuFe за авторством Фисун, В.В., Янсон, И.К., van Ruitenbeek, J.M., Mydosh, J.A.

Отримати повний текст

New directions in point-contact spectroscopy based on scanning tunneling microscopy techniques (Review Article) за авторством Tartaglini, E., Verhagen, T.G.A., Galli, F., Trouwborst, M.L., Müller, R., Shiota, T., Aarts, J., van Ruitenbeek, J.M.

Отримати повний текст