Іваницький, В. П., Рубіш, В. М., Тарнай, А. А., Чичура, І. І., Рубіш, В. В., Далекорей, А. В., . . . Цигика, В. В. (2024). Automation of measurements of the rate of thin films chemical etching. Інститут проблем реєстрації інформації НАН України.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Іваницький, В. П., В. М Рубіш, А. А Тарнай, І. І Чичура, В. В Рубіш, А. В Далекорей, Р. О Мешко, М. М Рябощук, та В. В Цигика. Automation of Measurements of the Rate of Thin Films Chemical Etching. Інститут проблем реєстрації інформації НАН України, 2024.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Іваницький, В. П., et al. Automation of Measurements of the Rate of Thin Films Chemical Etching. Інститут проблем реєстрації інформації НАН України, 2024.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.