Оптимизация комплексного показателя надежности радиотехнических устройств путем изменения их топологии

Рассмотрены проблемы определения параметров надежности конструкций радиотехнических устройств в условиях воздействия механических и термических (внешних и внутренних) факторов, предложены методы расчета этих параметров для блоков, ячеек, микросборок. Предложены методы достижения максимальных значени...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2015
Автори: Уваров, Б.М., Зиньковский, Ю.Ф.
Формат: Стаття
Мова:Russian
Опубліковано: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2015
Назва видання:Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Теми:
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/100558
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Оптимизация комплексного показателя надежности радиотехнических устройств путем изменения их топологии / Б.М. Уваров, Ю.Ф. Зиньковский // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2015. — № 5-6. — С. 3-8. — Бібліогр.: 5 назв. — рос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id irk-123456789-100558
record_format dspace
spelling irk-123456789-1005582016-05-24T03:02:13Z Оптимизация комплексного показателя надежности радиотехнических устройств путем изменения их топологии Уваров, Б.М. Зиньковский, Ю.Ф. Электронные средства: исследования, разработки Рассмотрены проблемы определения параметров надежности конструкций радиотехнических устройств в условиях воздействия механических и термических (внешних и внутренних) факторов, предложены методы расчета этих параметров для блоков, ячеек, микросборок. Предложены методы достижения максимальных значений показателей надежности с помощью топологической оптимизации конструкции. The authors consider problems of determination of reliability parameters for designs of radio engineering devices (RED) under the influence of mechanical and thermal (external and internal) factors. Mechanical factors (linear acceleration, vibration, impact) cause mechanical effect on the outputs of elements of electronic structure (EES) and soldered connections, which can result in decrease of reliability. External thermal effects and internal heat release in the elements of the electronic structure of radioelectronic devices raises the temperature of these elements, thereby reducing the reliability not only of the elements, but of the device as a whole. The paper presents the methods for determination of versatility indicators of reliability depending on mechanical and thermal effects on REDs. Optimization of configuration of the cell (topology) using computer programs allows reducing mechanical and thermal effect on the outputs of EESs and to obtain maximum parameters of reliability of a design. The optimum topology of a cell obtained by such program is illustrated. As a result of optimization, reliability of cells has increased. 2015 Article Оптимизация комплексного показателя надежности радиотехнических устройств путем изменения их топологии / Б.М. Уваров, Ю.Ф. Зиньковский // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2015. — № 5-6. — С. 3-8. — Бібліогр.: 5 назв. — рос. 2225-5818 DOI: 10.15222/TKEA2015.5-6.03 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/100558 621.396.67.095 ru Технология и конструирование в электронной аппаратуре Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
language Russian
topic Электронные средства: исследования, разработки
Электронные средства: исследования, разработки
spellingShingle Электронные средства: исследования, разработки
Электронные средства: исследования, разработки
Уваров, Б.М.
Зиньковский, Ю.Ф.
Оптимизация комплексного показателя надежности радиотехнических устройств путем изменения их топологии
Технология и конструирование в электронной аппаратуре
description Рассмотрены проблемы определения параметров надежности конструкций радиотехнических устройств в условиях воздействия механических и термических (внешних и внутренних) факторов, предложены методы расчета этих параметров для блоков, ячеек, микросборок. Предложены методы достижения максимальных значений показателей надежности с помощью топологической оптимизации конструкции.
format Article
author Уваров, Б.М.
Зиньковский, Ю.Ф.
author_facet Уваров, Б.М.
Зиньковский, Ю.Ф.
author_sort Уваров, Б.М.
title Оптимизация комплексного показателя надежности радиотехнических устройств путем изменения их топологии
title_short Оптимизация комплексного показателя надежности радиотехнических устройств путем изменения их топологии
title_full Оптимизация комплексного показателя надежности радиотехнических устройств путем изменения их топологии
title_fullStr Оптимизация комплексного показателя надежности радиотехнических устройств путем изменения их топологии
title_full_unstemmed Оптимизация комплексного показателя надежности радиотехнических устройств путем изменения их топологии
title_sort оптимизация комплексного показателя надежности радиотехнических устройств путем изменения их топологии
publisher Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
publishDate 2015
topic_facet Электронные средства: исследования, разработки
url http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/100558
citation_txt Оптимизация комплексного показателя надежности радиотехнических устройств путем изменения их топологии / Б.М. Уваров, Ю.Ф. Зиньковский // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2015. — № 5-6. — С. 3-8. — Бібліогр.: 5 назв. — рос.
series Технология и конструирование в электронной аппаратуре
work_keys_str_mv AT uvarovbm optimizaciâkompleksnogopokazatelânadežnostiradiotehničeskihustrojstvputemizmeneniâihtopologii
AT zinʹkovskijûf optimizaciâkompleksnogopokazatelânadežnostiradiotehničeskihustrojstvputemizmeneniâihtopologii
first_indexed 2024-03-30T08:50:23Z
last_indexed 2024-03-30T08:50:23Z
_version_ 1796148683509596160