Алгоритм выбора интервала пересчета параметров объектов контроля и управления в АСУ ТП
Разработан алгоритм выбора интервала измерений и корректировки параметров объектов контроля и управления иерархических АСУ, укомплектованных разнообразными техническими средствами и средствами связи между компонентами. Допустимый по точности воспроизведения характеристик объектов интервал определяет...
Збережено в:
Дата: | 2016 |
---|---|
Автор: | Тыныныка, А.Н |
Формат: | Стаття |
Мова: | Russian |
Опубліковано: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2016
|
Назва видання: | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
Теми: | |
Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/103852 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
Цитувати: | Алгоритм выбора интервала пересчета параметров объектов контроля и управления в АСУ ТП / А.Н Тыныныка // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2016. — № 1. — С. 33-38. — Бібліогр.: 15 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineСхожі ресурси
-
Подключающее МЭМС-устройство для контроля BGA-компонентов
за авторством: Невлюдов, И.Ш., та інші
Опубліковано: (2012) -
Позиционирование изображений фотошаблонов в системах автоматизированного оптического контроля
за авторством: Крылов, В.Н., та інші
Опубліковано: (2007) -
Установка для экспресс-контроля глубины охлаждения термоэлектрических микромодулей Пельтье
за авторством: Ащеулов, А.А., та інші
Опубліковано: (2007) -
Устройства для контроля качества сварных соединений выводов бескорпусных микросхем
за авторством: Спирин, В.Г.
Опубліковано: (2013) -
Сетевая система контроля технологического процесса выращивания полупроводниковых кристаллов и тонких пленок
за авторством: Рогов, Р.В., та інші
Опубліковано: (2005)