Особенности атомного строения металлических аморфных материалов в температурном интервале от −193 до +598 °С

Методами рентгеновской дифракции изучалась структура аморфных лент сплава Fe₈₀Si₆B₁₄ и закономерности структурных изменений в широком температурном интервале: от −190°C до +598°С. Исследования проводились на дифрактометре XRD; для регистрации рассеянного рентгеновского излучения использовался двухко...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2013
Автори: Ильинский, А.Г., Лепеева, Ю.В., Карбовский, В.Л., Зелинская, Г.М., Христенко, Т.М., Луговский, С.С., Бабенко, А.Н.
Формат: Стаття
Мова:Russian
Опубліковано: Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України 2013
Назва видання:Металлофизика и новейшие технологии
Теми:
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/104072
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Особенности атомного строения металлических аморфных материалов в температурном интервале от −193 до +598 °С / А.Г. Ильинский, Ю.В. Лепеева, В.Л. Карбовский, Г.М. Зелинская, Т.М. Христенко, С.С. Луговский, А.Н. Бабенко // Металлофизика и новейшие технологии. — 2013. — Т. 35, № 2. — С. 145-161. — Бібліогр.: 4 назв. — рос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Опис
Резюме:Методами рентгеновской дифракции изучалась структура аморфных лент сплава Fe₈₀Si₆B₁₄ и закономерности структурных изменений в широком температурном интервале: от −190°C до +598°С. Исследования проводились на дифрактометре XRD; для регистрации рассеянного рентгеновского излучения использовался двухкоординатный рентгеновский детектор, источник рентгеновского излучения – синхротрон. Съёмка рентгенограмм проводилась с шагом по температуре 4 К. Это, а также используемая геометрия рентгеновской съёмки (на просвет) и очень малая длина волны используемого излучения (0,1239 Å), обеспечивали очень высокую интенсивность (статистическая ошибка счёта на «хвосте» дифрактограммы – не больше 1%). Полученные данные позволяют считать, что кристаллические кластеры даже в аморфных лентах вращаются с большими скоростями, хотя эти данные и следует рассматривать лишь как необходимые, но недостаточные для однозначного утверждения.