In situ ПЭМ-исследование кинетики гомогенизации поликристаллической плёночной системы Ag—Pd
Приводятся результаты in situ электронно-микроскопических исследований скорости диффузионного перемешивания в слоистой плёночной системе Ag—Pd. Показано, что эффективный коэффициент диффузии в системе Ag—Pd с характерным размером зерна 4—7 нм составляет D ≈ 10⁻¹⁷— 10⁻¹⁸ м²/с при 280°C, что на 4 поря...
Збережено в:
Дата: | 2014 |
---|---|
Автори: | Крышталь, А.П., Богатыренко, С.И., Сухов, Р.В., Миненков, А.А., Талиашвили, А.И. |
Формат: | Стаття |
Мова: | Russian |
Опубліковано: |
Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України
2014
|
Назва видання: | Металлофизика и новейшие технологии |
Теми: | |
Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/106870 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
Цитувати: | In situ ПЭМ-исследование кинетики гомогенизации поликристаллической плёночной системы Ag—Pd / А.П. Крышталь, С.И. Богатыренко, Р.В. Сухов, А.А. Миненков, А.И. Талиашвили // Металлофизика и новейшие технологии. — 2014. — Т. 36, № 1. — С. 31-38. — Бібліогр.: 10 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineСхожі ресурси
-
Моделирование процессов диффузии и упорядочения в тонкоплёночной системе Au/Cu методом кинетики среднего поля
за авторством: Сидоренко, С.И., та інші
Опубліковано: (2013) -
Nanoscale Surface Deformation of the Granular Со₂₅Ag₇₅ Films
за авторством: Gorobets, O.Yu., та інші
Опубліковано: (2015) -
Real Time Test in situ of Superalloy Oxide Scale Stress by Archimedes Curve Slice Moment Technique
за авторством: Hai-tao Wang, та інші
Опубліковано: (2016) -
Вплив проміжних шарів Ag і Cu на температурні інтервали фазових перетворень у плівкових композиціях Pt/Fe
за авторством: Небога, О.С., та інші
Опубліковано: (2016) -
Вплив додаткового шару Ag на формування впорядкованої фази L1₀-FePt у плівках Ag (0; 7,5 нм)/Fe₅₀Pt₅₀ (15 нм)/SiO₂ (100 нм)/Si(001)
за авторством: Шаміс, М.Н., та інші
Опубліковано: (2017)