2025-02-24T00:20:50-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: Query fl=%2A&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-107201%22&qt=morelikethis&rows=5
2025-02-24T00:20:50-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: => GET http://localhost:8983/solr/biblio/select?fl=%2A&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-107201%22&qt=morelikethis&rows=5
2025-02-24T00:20:50-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: <= 200 OK
2025-02-24T00:20:50-05:00 DEBUG: Deserialized SOLR response
Основы многопараметрической диагностики с использованием деформационных зависимостей полной интегральной интенсивности динамической дифракции

Основы многопараметрической диагностики с использованием деформационных зависимостей полной интегральной интенсивности динамической дифракции

В работе построены полуфеноменологические теоретические модели деформационных зависимостей (ДЗ) полной (брэгговской и диффузной) интегральной интенсивности динамической дифракции (ПИИДД) в кристаллах с дефектами нескольких типов для достаточно высокой степени упругой деформации в различных условиях...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Main Authors: Лизунов, В.В., Бровчук, С.М., Низкова, А.И., Молодкин, В.Б., Лизунова, С.В., Шелудченко, Б.В., Гранкина, А.И., Рудницкая, И.И., Дмитриев, С.В., Толмачев, Н.Г., Лехняк, Р.В., Скапа, Л.Н., Ирха, Н.П.
Format: Article
Language:Russian
Published: Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України 2014
Series:Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології
Online Access:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/107201
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Description
Summary:В работе построены полуфеноменологические теоретические модели деформационных зависимостей (ДЗ) полной (брэгговской и диффузной) интегральной интенсивности динамической дифракции (ПИИДД) в кристаллах с дефектами нескольких типов для достаточно высокой степени упругой деформации в различных условиях дифракции. Показана достаточная избирательность чувствительности этих ДЗ ПИИДД к тому типу дефектов, который даёт определяющий вклад в ПИИДД в выбранных условиях дифракции и интервалах изменения степени упругой деформации. Это создаёт основу для решения проблемы диагностики многопараметрических систем путём управления этой избирательностью ДЗ ПИИДД при комбинированном подходе. Приведены результаты практической реализации разработанного подхода.

Similar Items