Структурная чувствительность равномерной деформации в области нанозерен

Проанализирована зависимость равномерной деформации от размера зерна в поликристаллических материалах. Установлено, что характер этой зависимости определяется структурной чувствительностью кривых деформационного упрочнения и при определенном соотношении параметров упрочнения равномерная деформация м...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2015
Автори: Подрезов, Ю.Н., Даниленко, В.И., Даниленко, Н.И., Марченко, Н.М., Фирстов, С.А.
Формат: Стаття
Мова:Russian
Опубліковано: Донецький фізико-технічний інститут ім. О.О. Галкіна НАН України 2015
Назва видання:Физика и техника высоких давлений
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/107387
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Структурная чувствительность равномерной деформации в области нанозерен / Ю.Н. Подрезов, В.И. Даниленко, Н.И. Даниленко, Н.М. Марченко, С.А. Фирстов // Физика и техника высоких давлений. — 2015. — Т. 25, № 1-2. — С. 66-89. — Бібліогр.: 21 назв. — рос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Опис
Резюме:Проанализирована зависимость равномерной деформации от размера зерна в поликристаллических материалах. Установлено, что характер этой зависимости определяется структурной чувствительностью кривых деформационного упрочнения и при определенном соотношении параметров упрочнения равномерная деформация может увеличиваться при уменьшении размера зерна. Показано, что в материалах с деформационной наноструктурой повышенная склонность к локализации обусловлена деградацией упрочнения вследствие ориентации плоскостей скольжения вдоль направления деформации. Материалы, продеформированные методами интенсивной пластической деформации (ИПД), лишены этого недостатка, что делает их потенциально пригодными для реализации большой равномерной деформации в наноструктурном состоянии.