Исследование структуры и химического состава тонких поликристаллических пленок сульфида кадмия при γ-облучении

Морфология, фазовый состав и структура поверхности пленок сульфида кадмия, полученных электрогидродинамическим (ЭГД) распылением жидкости в атмосфере кислорода, были исследованы методами сканирующей электронной микроскопии (SEM), атомно-силовой микроскопии (AFM), энергодисперсионного анализа (EDS) и...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2015
Автори: Голованова, В.В., Буковский, В.Е., Назарчук, Б.В., Голованов, В.В.
Формат: Стаття
Мова:Russian
Опубліковано: Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України 2015
Назва видання:Физическая инженерия поверхности
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/108636
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Исследование структуры и химического состава тонких поликристаллических пленок сульфида кадмия при γ-облучении / В.В. Голованова, В.Е. Буковский, Б.В. Назарчук, В.В.Голованов // Физическая инженерия поверхности. — 2015. — Т. 13, № 1. — С. 4-11. — Бібліогр.: 21 назв. — рос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id irk-123456789-108636
record_format dspace
spelling irk-123456789-1086362016-11-13T03:02:28Z Исследование структуры и химического состава тонких поликристаллических пленок сульфида кадмия при γ-облучении Голованова, В.В. Буковский, В.Е. Назарчук, Б.В. Голованов, В.В. Морфология, фазовый состав и структура поверхности пленок сульфида кадмия, полученных электрогидродинамическим (ЭГД) распылением жидкости в атмосфере кислорода, были исследованы методами сканирующей электронной микроскопии (SEM), атомно-силовой микроскопии (AFM), энергодисперсионного анализа (EDS) и рентгеноструктурного анализа (XRD). Исследовано влияние γ-фотонов на кристаллическую структуру пленок CdS. Показано, что радиационно-стимулированная диффузия способствует росту кристаллитов сульфида кадмия со структурой вюрцита. Полученные результаты свидетельствуют о том, что в случае осаждения пленок CdS методом ЭГД-пульверизации, несложными техническими методами, изменяя время напыления, температуру подложки, а также соотношение ионов серы и кадмия в исходном растворе, можно получать полупроводниковые слои с контролируемой структурой и стехиометрическим составом. Морфологія, фазовий склад і структура поверхні плівок сульфіду кадмію, отриманих за допомогою електрогідродинамічного (ЕГД) розпилення рідини в атмосфері кисню, були досліджені методами скануючої електронної мікроскопії (SEM), атомно-силової мікроскопії (AFM), енергодисперсійного аналізу (EDS) та рентгеноструктурного аналізу (XRD). Досліджено вплив γ-фотонів на кристалічну структуру плівок CdS. Показано, що радіаційно-стимульована дифузія сприяє росту кристалітів сульфіду кадмію зі структурою вюрцита. Отримані результати свідчать про те, що при осадженні плівок CdS методом ЕГД-пульверізації, нескладними технічними методами, змінюючи час напилення, температуру підкладки, а також співвідношення сірки та кадмію в вихідному розчині, можна отримувати напівпровідникові шари із контрольованими структурою та стехіометричним складом. The morphology, chemical composition and surface structure of the cadmium sulfide films, deposited in ambient atmosphere by electro-hydrodynamic (EHD) spray pyrolysis have been studied by scanning electron microscopy (SEM), atomic-force microscopy (AFM), energy-dispersive X-ray spectroscopy (EDS) and X-ray diffraction (XRD). The changes in the crystalline structure of CdS films induced by γ-irradiation have been determined from these measurements. It is shown that stimulated by γ-irradiation diffusion of intrinsic defects in CdS material facilitates the growth of crystals with wurtzite structure. The obtained results demonstrate that structure and stoichiometric composition of the CdS films synthesized by EHD spray pyrolysis method can be reliably controlled by such technological parameters as deposition time, substrate temperature and ratio of the sulfur and cadmium ions in the initial solution. 2015 Article Исследование структуры и химического состава тонких поликристаллических пленок сульфида кадмия при γ-облучении / В.В. Голованова, В.Е. Буковский, Б.В. Назарчук, В.В.Голованов // Физическая инженерия поверхности. — 2015. — Т. 13, № 1. — С. 4-11. — Бібліогр.: 21 назв. — рос. 1999-8074 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/108636 539.216.2:544.032.6 ru Физическая инженерия поверхности Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
language Russian
description Морфология, фазовый состав и структура поверхности пленок сульфида кадмия, полученных электрогидродинамическим (ЭГД) распылением жидкости в атмосфере кислорода, были исследованы методами сканирующей электронной микроскопии (SEM), атомно-силовой микроскопии (AFM), энергодисперсионного анализа (EDS) и рентгеноструктурного анализа (XRD). Исследовано влияние γ-фотонов на кристаллическую структуру пленок CdS. Показано, что радиационно-стимулированная диффузия способствует росту кристаллитов сульфида кадмия со структурой вюрцита. Полученные результаты свидетельствуют о том, что в случае осаждения пленок CdS методом ЭГД-пульверизации, несложными техническими методами, изменяя время напыления, температуру подложки, а также соотношение ионов серы и кадмия в исходном растворе, можно получать полупроводниковые слои с контролируемой структурой и стехиометрическим составом.
format Article
author Голованова, В.В.
Буковский, В.Е.
Назарчук, Б.В.
Голованов, В.В.
spellingShingle Голованова, В.В.
Буковский, В.Е.
Назарчук, Б.В.
Голованов, В.В.
Исследование структуры и химического состава тонких поликристаллических пленок сульфида кадмия при γ-облучении
Физическая инженерия поверхности
author_facet Голованова, В.В.
Буковский, В.Е.
Назарчук, Б.В.
Голованов, В.В.
author_sort Голованова, В.В.
title Исследование структуры и химического состава тонких поликристаллических пленок сульфида кадмия при γ-облучении
title_short Исследование структуры и химического состава тонких поликристаллических пленок сульфида кадмия при γ-облучении
title_full Исследование структуры и химического состава тонких поликристаллических пленок сульфида кадмия при γ-облучении
title_fullStr Исследование структуры и химического состава тонких поликристаллических пленок сульфида кадмия при γ-облучении
title_full_unstemmed Исследование структуры и химического состава тонких поликристаллических пленок сульфида кадмия при γ-облучении
title_sort исследование структуры и химического состава тонких поликристаллических пленок сульфида кадмия при γ-облучении
publisher Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України
publishDate 2015
url http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/108636
citation_txt Исследование структуры и химического состава тонких поликристаллических пленок сульфида кадмия при γ-облучении / В.В. Голованова, В.Е. Буковский, Б.В. Назарчук, В.В.Голованов // Физическая инженерия поверхности. — 2015. — Т. 13, № 1. — С. 4-11. — Бібліогр.: 21 назв. — рос.
series Физическая инженерия поверхности
work_keys_str_mv AT golovanovavv issledovaniestrukturyihimičeskogosostavatonkihpolikristalličeskihplenoksulʹfidakadmiâprigoblučenii
AT bukovskijve issledovaniestrukturyihimičeskogosostavatonkihpolikristalličeskihplenoksulʹfidakadmiâprigoblučenii
AT nazarčukbv issledovaniestrukturyihimičeskogosostavatonkihpolikristalličeskihplenoksulʹfidakadmiâprigoblučenii
AT golovanovvv issledovaniestrukturyihimičeskogosostavatonkihpolikristalličeskihplenoksulʹfidakadmiâprigoblučenii
first_indexed 2023-10-18T20:18:04Z
last_indexed 2023-10-18T20:18:04Z
_version_ 1796149496940331008