Исследование структуры и химического состава тонких поликристаллических пленок сульфида кадмия при γ-облучении
Морфология, фазовый состав и структура поверхности пленок сульфида кадмия, полученных электрогидродинамическим (ЭГД) распылением жидкости в атмосфере кислорода, были исследованы методами сканирующей электронной микроскопии (SEM), атомно-силовой микроскопии (AFM), энергодисперсионного анализа (EDS) и...
Збережено в:
Дата: | 2015 |
---|---|
Автори: | Голованова, В.В., Буковский, В.Е., Назарчук, Б.В., Голованов, В.В. |
Формат: | Стаття |
Мова: | Russian |
Опубліковано: |
Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України
2015
|
Назва видання: | Физическая инженерия поверхности |
Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/108636 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
Цитувати: | Исследование структуры и химического состава тонких поликристаллических пленок сульфида кадмия при γ-облучении / В.В. Голованова, В.Е. Буковский, Б.В. Назарчук, В.В.Голованов // Физическая инженерия поверхности. — 2015. — Т. 13, № 1. — С. 4-11. — Бібліогр.: 21 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineСхожі ресурси
-
Структура и свойства электроосажденных пленок сульфида кадмия
за авторством: Ли, Т.А., та інші
Опубліковано: (2007) -
Радиационное легирование сульфида кадмия и арсенида галлия
за авторством: Мокрицкий, В.А., та інші
Опубліковано: (2003) -
Легирование кремнием и фотоэлектрические свойства тонких плёнок полуторного сульфида тулия
за авторством: Джабуа, З.У., та інші
Опубліковано: (2014) -
Оптимизация технологии “хлоридной” обработки тонких пленок халькогенидов кадмия
за авторством: Харченко, Н.М., та інші
Опубліковано: (2008) -
Взрывная кристаллизация тонких пленок полупроводников при облучении y-квантами
за авторством: Храмов, Е.Ф., та інші
Опубліковано: (2003)