Периодическая структура в фоточувствительной композитной пленке при возбуждении предельной ТЕ₀ моды подложки

Описаны свойства фоточувствительной тонкопленочной композиции AgCl-Ag и ее способность к генерации периодической структуры (ПС) под действием линейно поляризованного лазерного пучка. Отмечена связь в развитии ПС с волноводными свойствами системы пленка-подложка. Особое внимание уделено случаю развит...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2015
Автори: Агеев, Л.А., Белошенко, К.С., Резникова, В.М.
Формат: Стаття
Мова:Russian
Опубліковано: Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України 2015
Назва видання:Физическая инженерия поверхности
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/108723
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Периодическая структура в фоточувствительной композитной пленке при возбуждении предельной ТЕ₀ моды подложки / Л.А. Агеев, К.С. Белошенко, В.М. Резникова // Физическая инженерия поверхности. — 2015. — Т. 13, № 2. — С. 243-249. — Бібліогр.: 17 назв. — рос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id irk-123456789-108723
record_format dspace
spelling irk-123456789-1087232016-11-15T03:03:10Z Периодическая структура в фоточувствительной композитной пленке при возбуждении предельной ТЕ₀ моды подложки Агеев, Л.А. Белошенко, К.С. Резникова, В.М. Описаны свойства фоточувствительной тонкопленочной композиции AgCl-Ag и ее способность к генерации периодической структуры (ПС) под действием линейно поляризованного лазерного пучка. Отмечена связь в развитии ПС с волноводными свойствами системы пленка-подложка. Особое внимание уделено случаю развития ПС при возбуждении рассеянным светом предельной ТЕ₀ моды подложки. Для «толстых» (≥1 мм) подложек и тонких пленок (меньше толщины отсечки ТЕ₀ моды пленки) ПС всегда развивается за счет возбуждения предельной моды подложки. При этом, измерения угла дифракции от ПС дает возможность найти показатель преломления подложки. Показано, что такая же ситуация сохраняется и для «тонкой» (≈0,1 мм) подложки, несмотря на то, что в ней хорошо выражена дискретность других ТЕm мод. Надано опис властивостей фоточутливої тонкоплівкової композиції AgCl-Ag і її спроможності до генерації періодичної структури (ПС) під дією лінійно поляризованого лазерного пучка. Відзначено зв’язок у розвитку ПС із хвилеводними властивостями системи плівка-підкладка. Особлива увага приділена випадку, коли ПС створюється при збудженні розсіяним світлом граничної ТЕ₀ моди підкладки. Для «товстих» (≥1 мм) підкладок і тонких плівок (менших товщини відсічки моди плівки) ПС завжди розвивається за рахунок збудження граничної моди підкладки. При цьому, виміри кута дифракції від ПС дають можливість знайти показник заломлення підкладки. Показано, що ця ситуація зберігається і для «тонкої» (≈0,1 мм) підкладки, незважаючи на те, що у ній добре спостерігається дискретність інших ТЕm мод. The properties of the thin film of the photosensitive composition and its ability to generate a periodic structure (PS) by a linearly polarized laser beam were reported. It was found the correlation between the developments of PS and the waveguide properties of the film-substrate system. Particular attention was paid to the case of PS by the excitation of the scattered light of limit mode of the substrate. For the «thick» (1 mm) substrates and thin films (less than the thickness of the cut-off mode of film) PS is always developing due to the excitation of the limit mode of the substrate. At the same time, measuring of the diffraction angle from the PS gives possibility to find the refractive index of the substrate. It is shown that the same situation takes place also for «thin» (0.1 mm) of the substrate, despite the fact that the discreteness other modes is well expressed. 2015 Article Периодическая структура в фоточувствительной композитной пленке при возбуждении предельной ТЕ₀ моды подложки / Л.А. Агеев, К.С. Белошенко, В.М. Резникова // Физическая инженерия поверхности. — 2015. — Т. 13, № 2. — С. 243-249. — Бібліогр.: 17 назв. — рос. 1999-8074 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/108723 535.32/58;539.216.2 ru Физическая инженерия поверхности Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
language Russian
description Описаны свойства фоточувствительной тонкопленочной композиции AgCl-Ag и ее способность к генерации периодической структуры (ПС) под действием линейно поляризованного лазерного пучка. Отмечена связь в развитии ПС с волноводными свойствами системы пленка-подложка. Особое внимание уделено случаю развития ПС при возбуждении рассеянным светом предельной ТЕ₀ моды подложки. Для «толстых» (≥1 мм) подложек и тонких пленок (меньше толщины отсечки ТЕ₀ моды пленки) ПС всегда развивается за счет возбуждения предельной моды подложки. При этом, измерения угла дифракции от ПС дает возможность найти показатель преломления подложки. Показано, что такая же ситуация сохраняется и для «тонкой» (≈0,1 мм) подложки, несмотря на то, что в ней хорошо выражена дискретность других ТЕm мод.
format Article
author Агеев, Л.А.
Белошенко, К.С.
Резникова, В.М.
spellingShingle Агеев, Л.А.
Белошенко, К.С.
Резникова, В.М.
Периодическая структура в фоточувствительной композитной пленке при возбуждении предельной ТЕ₀ моды подложки
Физическая инженерия поверхности
author_facet Агеев, Л.А.
Белошенко, К.С.
Резникова, В.М.
author_sort Агеев, Л.А.
title Периодическая структура в фоточувствительной композитной пленке при возбуждении предельной ТЕ₀ моды подложки
title_short Периодическая структура в фоточувствительной композитной пленке при возбуждении предельной ТЕ₀ моды подложки
title_full Периодическая структура в фоточувствительной композитной пленке при возбуждении предельной ТЕ₀ моды подложки
title_fullStr Периодическая структура в фоточувствительной композитной пленке при возбуждении предельной ТЕ₀ моды подложки
title_full_unstemmed Периодическая структура в фоточувствительной композитной пленке при возбуждении предельной ТЕ₀ моды подложки
title_sort периодическая структура в фоточувствительной композитной пленке при возбуждении предельной те₀ моды подложки
publisher Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України
publishDate 2015
url http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/108723
citation_txt Периодическая структура в фоточувствительной композитной пленке при возбуждении предельной ТЕ₀ моды подложки / Л.А. Агеев, К.С. Белошенко, В.М. Резникова // Физическая инженерия поверхности. — 2015. — Т. 13, № 2. — С. 243-249. — Бібліогр.: 17 назв. — рос.
series Физическая инженерия поверхности
work_keys_str_mv AT ageevla periodičeskaâstrukturavfotočuvstvitelʹnojkompozitnojplenkeprivozbuždeniipredelʹnojte0modypodložki
AT belošenkoks periodičeskaâstrukturavfotočuvstvitelʹnojkompozitnojplenkeprivozbuždeniipredelʹnojte0modypodložki
AT reznikovavm periodičeskaâstrukturavfotočuvstvitelʹnojkompozitnojplenkeprivozbuždeniipredelʹnojte0modypodložki
first_indexed 2023-10-18T20:18:17Z
last_indexed 2023-10-18T20:18:17Z
_version_ 1796149506195062784