Анализ результатов аппроксимации спектральных характеристик поверхностного плазмонного резонанса аналитическими функциями
В наноразмерной пленке золота проанализированы спектры поляризационной разности коэффициентов внутреннего отражения поляризованного света R²s - R²p при фиксированных углах падения тестирующего луча, превышающих критический угол. Сделан сравнительный анализ разложения спектра с использованием аналити...
Збережено в:
| Видавець: | Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
|---|---|
| Дата: | 2014 |
| Автор: | |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Russian |
| Опубліковано: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2014
|
| Назва видання: | Оптоэлектроника и полупроводниковая техника |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/108931 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Цитувати: | Анализ результатов аппроксимации спектральных характеристик поверхностного плазмонного резонанса аналитическими функциями / М.А. Стеценко // Оптоэлектроника и полупроводниковая техника: Сб. научн. тр. — 2014. — Вип. 49. — С. 93-97. — Бібліогр.: 20 назв. — рос. |
Репозиторії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
irk-123456789-108931 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
irk-123456789-1089312016-11-18T03:02:30Z Анализ результатов аппроксимации спектральных характеристик поверхностного плазмонного резонанса аналитическими функциями Стеценко, М.А. В наноразмерной пленке золота проанализированы спектры поляризационной разности коэффициентов внутреннего отражения поляризованного света R²s - R²p при фиксированных углах падения тестирующего луча, превышающих критический угол. Сделан сравнительный анализ разложения спектра с использованием аналитических функций Гаусса, Лоренца, Фано и Фойгта. Только применение аппроксимации Гаусса позволило выявить раздельный вклад коротко- и длиннопробежных плазмон-поляритонов в поверхностный плазмонный резонанс. Analyzed in nanoscale gold film were the spectra of the polarization difference of the coefficients of total internal reflection for polarized light R²s - R²p at the fixed angles of incidence of the testing beam exceeding the critical angle. A comparative analysis of the expansion of the spectrum by using the analytic functions of Gauss, Lorentz, Fano and Voigt was carried out. Only the application of the Gauss approximation allowed to reveal separate contribution of short- and long-range plasmon polaritons to surface plasmon resonance. 2014 Article Анализ результатов аппроксимации спектральных характеристик поверхностного плазмонного резонанса аналитическими функциями / М.А. Стеценко // Оптоэлектроника и полупроводниковая техника: Сб. научн. тр. — 2014. — Вип. 49. — С. 93-97. — Бібліогр.: 20 назв. — рос. 0233-7577 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/108931 535.5 ru Оптоэлектроника и полупроводниковая техника Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| language |
Russian |
| description |
В наноразмерной пленке золота проанализированы спектры поляризационной разности коэффициентов внутреннего отражения поляризованного света R²s - R²p при фиксированных углах падения тестирующего луча, превышающих критический угол. Сделан сравнительный анализ разложения спектра с использованием аналитических функций Гаусса, Лоренца, Фано и Фойгта. Только применение аппроксимации Гаусса позволило выявить раздельный вклад коротко- и длиннопробежных плазмон-поляритонов в поверхностный плазмонный резонанс. |
| format |
Article |
| author |
Стеценко, М.А. |
| spellingShingle |
Стеценко, М.А. Анализ результатов аппроксимации спектральных характеристик поверхностного плазмонного резонанса аналитическими функциями Оптоэлектроника и полупроводниковая техника |
| author_facet |
Стеценко, М.А. |
| author_sort |
Стеценко, М.А. |
| title |
Анализ результатов аппроксимации спектральных характеристик поверхностного плазмонного резонанса аналитическими функциями |
| title_short |
Анализ результатов аппроксимации спектральных характеристик поверхностного плазмонного резонанса аналитическими функциями |
| title_full |
Анализ результатов аппроксимации спектральных характеристик поверхностного плазмонного резонанса аналитическими функциями |
| title_fullStr |
Анализ результатов аппроксимации спектральных характеристик поверхностного плазмонного резонанса аналитическими функциями |
| title_full_unstemmed |
Анализ результатов аппроксимации спектральных характеристик поверхностного плазмонного резонанса аналитическими функциями |
| title_sort |
анализ результатов аппроксимации спектральных характеристик поверхностного плазмонного резонанса аналитическими функциями |
| publisher |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
| publishDate |
2014 |
| url |
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/108931 |
| citation_txt |
Анализ результатов аппроксимации спектральных характеристик поверхностного плазмонного резонанса аналитическими функциями / М.А. Стеценко // Оптоэлектроника и полупроводниковая техника: Сб. научн. тр. — 2014. — Вип. 49. — С. 93-97. — Бібліогр.: 20 назв. — рос. |
| series |
Оптоэлектроника и полупроводниковая техника |
| work_keys_str_mv |
AT stecenkoma analizrezulʹtatovapproksimaciispektralʹnyhharakteristikpoverhnostnogoplazmonnogorezonansaanalitičeskimifunkciâmi |
| first_indexed |
2023-10-18T20:18:47Z |
| last_indexed |
2023-10-18T20:18:47Z |
| _version_ |
1796149527406706688 |