Микроскопическое исследование поверхности радиационно-термически окисленного бериллия

Методом атомно-силовой микроскопии изучена морфология поверхности металлического бериллия до и после радиационно-термической обработки в водной среде при температурах 473…773 K при воздействии гамма-квантов. Показано, что радиационно-термическая модификация рельефа поверхности бериллия сопровождаетс...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2012
Автори: Гаджиева, Н.Н., Гарибов, А.А., Нурмамедова, Ф.Н., Исмаилов, Ш.С.
Формат: Стаття
Мова:Russian
Опубліковано: Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України 2012
Назва видання:Вопросы атомной науки и техники
Теми:
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/109088
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Микроскопическое исследование поверхности радиационно-термически окисленного бериллия / Н.Н. Гаджиева, А.А. Гарибов, Ф.Н. Нурмамедова, Ш.С. Исмаилов // Вопросы атомной науки и техники. — 2012. — № 5. — С. 21-26. — Бібліогр.: 19 назв. — рос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Опис
Резюме:Методом атомно-силовой микроскопии изучена морфология поверхности металлического бериллия до и после радиационно-термической обработки в водной среде при температурах 473…773 K при воздействии гамма-квантов. Показано, что радиационно-термическая модификация рельефа поверхности бериллия сопровождается формированием оксидных структур, дефектность которых определяется температурой и временем облучения. Особенности поверхностных структур показывают, что сформированные сплошные оксидные слои, объединенные в кластеры, по сравнению с тонкими оксидными пленками преимущественно состоят из наночастиц больших размеров разного типа. По ИК-спектрам отражения прослежено формирование оксидных слоев в зависимости от времени облучения и установлена неоднородность их структур. Выявлено, что формирование сплошных оксидных слоев приводит к уменьшению поверхностной электропроводимости бериллия на ~ 4 порядка.