Aberrations in electromagnetic plasma lenses proposed for intense large-aperture ion beam focusing

It is shown, that in electromagnetic plasma lenses moment aberrations obey the conservation law of the moment of the ion generalized momentum; they disappear when an ion source is placed in a zero magnetic field. Geometrical aberrations can be removed by choice of the optimal electric field intensit...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2003
Автори: Butenko, V.I., Ivanov, B.I.
Формат: Стаття
Мова:English
Опубліковано: Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України 2003
Назва видання:Вопросы атомной науки и техники
Теми:
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/110539
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Aberrations in electromagnetic plasma lenses proposed for intense large-aperture ion beam focusing / V.I. Butenko, B.I. Ivanov // Вопросы атомной науки и техники. — 2003. — № 1. — С. 121-124. — Бібліогр.: 11 назв. — англ.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id irk-123456789-110539
record_format dspace
spelling irk-123456789-1105392017-01-05T03:03:50Z Aberrations in electromagnetic plasma lenses proposed for intense large-aperture ion beam focusing Butenko, V.I. Ivanov, B.I. Plasma electronics It is shown, that in electromagnetic plasma lenses moment aberrations obey the conservation law of the moment of the ion generalized momentum; they disappear when an ion source is placed in a zero magnetic field. Geometrical aberrations can be removed by choice of the optimal electric field intensity distribution along the radius that have been calculated. As a result, the ion current density and beam compression can achieve in the focus a value up to 10³ A/cm², and 10⁵, accordingly. Then influence of discrete distribution of the external (boundary) electrical potential upon ion focusing was studied, and an example of two-lens achromatic system have been investigated as well. Досліджується плазмова лінза Морозова, у котрої магнітні поверхні є еквіпотенціалями електричного поля. Магнітне поле створюється центральним струмовим витком і двома бічними витками, включеними назустріч центральному. У роботі приведені результати комп'ютерного моделювання фокусування іонів з урахуванням їх поздовжнього, радіального й азимутального руху. Розглянуто засоби усунення моментних, геометричних і хроматичних аберацій. Проводиться оптимізація магнітного й електричного полів по величині і розподілу в просторі. Промодельоване вплив дискретного розподілу потенціалу на фокусування іонів і розглянуті пов'язані з цим аберації. Розглянуто комп'ютерну модель двухлінзової ахроматичної системи. Исследуется плазменная линза Морозова, в которой магнитные поверхности являются эквипотенциалями электрического поля. Магнитное поле создается центральным токовым витком и двумя боковыми витками, включенными навстречу центральному. В работе приведены результаты компьютерного моделирования фокусировки ионов с учетом их продольного, радиального и азимутального движения. Рассмотрены способы устранения моментных, геометрических и хроматических аберраций. Проводится оптимизация магнитного и электрического полей по величине и распределению в пространстве. Промоделировано влияние дискретного распределения потенциала на фокусировку ионов и рассмотрены связанные с этим аберрации. Рассмотрена компьютерная модель двухлинзовой ахроматической системы. 2003 Article Aberrations in electromagnetic plasma lenses proposed for intense large-aperture ion beam focusing / V.I. Butenko, B.I. Ivanov // Вопросы атомной науки и техники. — 2003. — № 1. — С. 121-124. — Бібліогр.: 11 назв. — англ. 1562-6016 PACS: 52.40.Mj http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/110539 en Вопросы атомной науки и техники Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
language English
topic Plasma electronics
Plasma electronics
spellingShingle Plasma electronics
Plasma electronics
Butenko, V.I.
Ivanov, B.I.
Aberrations in electromagnetic plasma lenses proposed for intense large-aperture ion beam focusing
Вопросы атомной науки и техники
description It is shown, that in electromagnetic plasma lenses moment aberrations obey the conservation law of the moment of the ion generalized momentum; they disappear when an ion source is placed in a zero magnetic field. Geometrical aberrations can be removed by choice of the optimal electric field intensity distribution along the radius that have been calculated. As a result, the ion current density and beam compression can achieve in the focus a value up to 10³ A/cm², and 10⁵, accordingly. Then influence of discrete distribution of the external (boundary) electrical potential upon ion focusing was studied, and an example of two-lens achromatic system have been investigated as well.
format Article
author Butenko, V.I.
Ivanov, B.I.
author_facet Butenko, V.I.
Ivanov, B.I.
author_sort Butenko, V.I.
title Aberrations in electromagnetic plasma lenses proposed for intense large-aperture ion beam focusing
title_short Aberrations in electromagnetic plasma lenses proposed for intense large-aperture ion beam focusing
title_full Aberrations in electromagnetic plasma lenses proposed for intense large-aperture ion beam focusing
title_fullStr Aberrations in electromagnetic plasma lenses proposed for intense large-aperture ion beam focusing
title_full_unstemmed Aberrations in electromagnetic plasma lenses proposed for intense large-aperture ion beam focusing
title_sort aberrations in electromagnetic plasma lenses proposed for intense large-aperture ion beam focusing
publisher Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
publishDate 2003
topic_facet Plasma electronics
url http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/110539
citation_txt Aberrations in electromagnetic plasma lenses proposed for intense large-aperture ion beam focusing / V.I. Butenko, B.I. Ivanov // Вопросы атомной науки и техники. — 2003. — № 1. — С. 121-124. — Бібліогр.: 11 назв. — англ.
series Вопросы атомной науки и техники
work_keys_str_mv AT butenkovi aberrationsinelectromagneticplasmalensesproposedforintenselargeapertureionbeamfocusing
AT ivanovbi aberrationsinelectromagneticplasmalensesproposedforintenselargeapertureionbeamfocusing
first_indexed 2023-10-18T20:22:17Z
last_indexed 2023-10-18T20:22:17Z
_version_ 1796149687070228480