X-ray lines relative intensity depending on detector efficiency, foils and cases thickness for primary and scattered spectra

X-ray lines relative intensity depending on detector efficiency, foils and cases thickness for primary and scattered spectra

Primary and Compton scattered radiation spectra from radioactive source ²⁴¹Am were measured in various geometry and for various targets. Spectral lines intensity of characteristic X-ray radiation (CXR), Compton and Rayleigh scattering are defined. The back scattering peak for a line 59.54 keV was ex...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2011
Автори: Bochek, G.L., Deiev, O.S., Maslov, N.I., Voloshyn, V.K.
Формат: Стаття
Мова:English
Опубліковано: Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України 2011
Назва видання:Вопросы атомной науки и техники
Теми:
Ядернo-физические методы и обработка данных
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/111134
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:X-ray lines relative intensity depending on detector efficiency, foils and cases thickness for primary and scattered spectra / G.L.Bochek, O.S.Deiev, N.I.Maslov, V.K.Voloshyn // Вопросы атомной науки и техники. — 2011. — № 3. — С. 42-49. — Бібліогр.: 12 назв. — англ.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id irk-123456789-111134
record_format dspace
spelling irk-123456789-1111342017-01-09T03:03:27Z X-ray lines relative intensity depending on detector efficiency, foils and cases thickness for primary and scattered spectra Bochek, G.L. Deiev, O.S. Maslov, N.I. Voloshyn, V.K. Ядернo-физические методы и обработка данных Primary and Compton scattered radiation spectra from radioactive source ²⁴¹Am were measured in various geometry and for various targets. Spectral lines intensity of characteristic X-ray radiation (CXR), Compton and Rayleigh scattering are defined. The back scattering peak for a line 59.54 keV was explored. X-ray quanta were registered by the packaged Si detector 300mm and input Al foil 10mm thicknesses. Radiation interaction with targets and detector atoms was simulated in software code GEANT 4 (LE). Simulated spectra, quanta registration efficiency and secondary calculated radiation spectra at 90º...160º are compared with experimentally measured energy distributions. Виміряні прямі і комптонівськи розсіяні спектри від радіоактивного джерела ²⁴¹Am в різній геометрії для різних мішеней. Визначені інтенсивності рентгенівських ліній характеристичного рентгенівського випромінювання (ХРІ), комптонівського і релеєвського розсіяння в розсіяних спектрах. Вивчався пік зворотнього розсіювання для лінії 59.54 кeВ. Рентгенівські кванти реєструвалися корпусованим Si - детектором товщиною 300 мкм і вхідною фольгою Al товщиною 10 мкм. У програмному коді GEANT 4 (LE) моделювалася взаємодія випромінювання з атомами мішені і детектора. Розраховані спектри випромінювання ²⁴¹Am, ефективність реєстрації квантів, спектри вторинного випромінювання, розсіяного під кутами 90º...160º, порівнюються з первинними енергетичними розподілами. Измерены прямые и комптоновски рассеянные спектры излучения от радиоактивного источника ²⁴¹Am в различной геометрии для различных мишеней. Определены интенсивности рентгеновских линий характеристического рентгеновского излучения (ХРИ), комптоновского и рэлеевского рассеяния в рассеянных спектрах. Изучался пик обратного рассеяния для линии 59.54 кэВ. Рентгеновские кванты регистрировались корпусированным Si - детектором толщиной 300 мкм и входной Al фольгой толщиной 10 мкм. В программном коде GEANT 4 (LE) моделировалось взаимодействие излучения с атомами мишени и детектора. Расчетные спектры излучения ²⁴¹Am, эффективность регистрации квантов и спектры вторичного излучения, рассеянного под углами 90º...160º, сравниваются с экспериментально измеренными энергетическими распределениями. 2011 Article X-ray lines relative intensity depending on detector efficiency, foils and cases thickness for primary and scattered spectra / G.L.Bochek, O.S.Deiev, N.I.Maslov, V.K.Voloshyn // Вопросы атомной науки и техники. — 2011. — № 3. — С. 42-49. — Бібліогр.: 12 назв. — англ. 1562-6016 PACS: 07.85.Fv, 61.80.Cb http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/111134 en Вопросы атомной науки и техники Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
language English
topic Ядернo-физические методы и обработка данных
Ядернo-физические методы и обработка данных
spellingShingle Ядернo-физические методы и обработка данных
Ядернo-физические методы и обработка данных
Bochek, G.L.
Deiev, O.S.
Maslov, N.I.
Voloshyn, V.K.
X-ray lines relative intensity depending on detector efficiency, foils and cases thickness for primary and scattered spectra
Вопросы атомной науки и техники
description Primary and Compton scattered radiation spectra from radioactive source ²⁴¹Am were measured in various geometry and for various targets. Spectral lines intensity of characteristic X-ray radiation (CXR), Compton and Rayleigh scattering are defined. The back scattering peak for a line 59.54 keV was explored. X-ray quanta were registered by the packaged Si detector 300mm and input Al foil 10mm thicknesses. Radiation interaction with targets and detector atoms was simulated in software code GEANT 4 (LE). Simulated spectra, quanta registration efficiency and secondary calculated radiation spectra at 90º...160º are compared with experimentally measured energy distributions.
format Article
author Bochek, G.L.
Deiev, O.S.
Maslov, N.I.
Voloshyn, V.K.
author_facet Bochek, G.L.
Deiev, O.S.
Maslov, N.I.
Voloshyn, V.K.
author_sort Bochek, G.L.
title X-ray lines relative intensity depending on detector efficiency, foils and cases thickness for primary and scattered spectra
title_short X-ray lines relative intensity depending on detector efficiency, foils and cases thickness for primary and scattered spectra
title_full X-ray lines relative intensity depending on detector efficiency, foils and cases thickness for primary and scattered spectra
title_fullStr X-ray lines relative intensity depending on detector efficiency, foils and cases thickness for primary and scattered spectra
title_full_unstemmed X-ray lines relative intensity depending on detector efficiency, foils and cases thickness for primary and scattered spectra
title_sort x-ray lines relative intensity depending on detector efficiency, foils and cases thickness for primary and scattered spectra
publisher Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
publishDate 2011
topic_facet Ядернo-физические методы и обработка данных
url http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/111134
citation_txt X-ray lines relative intensity depending on detector efficiency, foils and cases thickness for primary and scattered spectra / G.L.Bochek, O.S.Deiev, N.I.Maslov, V.K.Voloshyn // Вопросы атомной науки и техники. — 2011. — № 3. — С. 42-49. — Бібліогр.: 12 назв. — англ.
series Вопросы атомной науки и техники
work_keys_str_mv AT bochekgl xraylinesrelativeintensitydependingondetectorefficiencyfoilsandcasesthicknessforprimaryandscatteredspectra
AT deievos xraylinesrelativeintensitydependingondetectorefficiencyfoilsandcasesthicknessforprimaryandscatteredspectra
AT maslovni xraylinesrelativeintensitydependingondetectorefficiencyfoilsandcasesthicknessforprimaryandscatteredspectra
AT voloshynvk xraylinesrelativeintensitydependingondetectorefficiencyfoilsandcasesthicknessforprimaryandscatteredspectra
first_indexed 2024-03-30T09:15:16Z
last_indexed 2024-03-30T09:15:16Z
_version_ 1796149749907193856

Схожі ресурси