New Ion elastic scattering Beam Line of analytical complex at Iар NAS Ukraine

The paper presents a description of new Ion Backscattering Beam Line. Small-size electrostatic accelerator “Sokol” with a beam energy range of 0.2…2.0 MeV is used as an ion source. A detail of the Beam Line is using of magnetic spectrometer which allows to carry out precise (several nm) quantitati...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2008
Автори: Drozdenko, A.A., Duvanov, S.M., Mordyk, S.N., Storizhko, V.E.
Формат: Стаття
Мова:English
Опубліковано: Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України 2008
Назва видання:Вопросы атомной науки и техники
Теми:
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/111214
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:New Ion elastic scattering Beam Line of analytical complex at Iар NAS Ukraine / A.A. Drozdenko, S.M. Duvanov, S.N. Mordyk, V.E. Storizhko // Вопросы атомной науки и техники. — 2008. — № 3. — С. 105-109. — Бібліогр.: 12 назв. — англ.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Опис
Резюме:The paper presents a description of new Ion Backscattering Beam Line. Small-size electrostatic accelerator “Sokol” with a beam energy range of 0.2…2.0 MeV is used as an ion source. A detail of the Beam Line is using of magnetic spectrometer which allows to carry out precise (several nm) quantitative layer-by-layer non-destructive element analysis of solid composition and structure using Ion Elastic Scattering technique. Design of Backscattering Chamber allows realizing a full set of Ion Beam Analysis techniques. Proton and helium ion backscattering spectra are presented from the thin film samples. Simulated spectra fit well the experimental ones together. The last shows the analytical efficiency of Backscattering Beam Line.