2025-02-23T03:44:39-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: Query fl=%2A&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-111694%22&qt=morelikethis&rows=5
2025-02-23T03:44:39-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: => GET http://localhost:8983/solr/biblio/select?fl=%2A&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-111694%22&qt=morelikethis&rows=5
2025-02-23T03:44:39-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: <= 200 OK
2025-02-23T03:44:39-05:00 DEBUG: Deserialized SOLR response

Эпитаксиальный рост плёнок тройной системы Сu–In–Se

На поверхности (001) кристаллов KCl с подслоем PbS при температуре подложки 400 ºС выращены эпитаксиальные пленки β-CIS. В пленках обнаружены зоны существования β-CIS и β- + γ-CIS, соответствующих псевдобинарной диаграмме состояния Cu₂Se–In₂Se₃. В кристалликах β-CIS установлены микродвойники по плос...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Main Authors: Григоров, С.Н., Таран, А.В.
Format: Article
Language:Russian
Published: Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України 2011
Series:Вопросы атомной науки и техники
Subjects:
Online Access:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/111694
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
id irk-123456789-111694
record_format dspace
spelling irk-123456789-1116942017-01-14T03:02:50Z Эпитаксиальный рост плёнок тройной системы Сu–In–Se Григоров, С.Н. Таран, А.В. Физика и технология конструкционных материалов На поверхности (001) кристаллов KCl с подслоем PbS при температуре подложки 400 ºС выращены эпитаксиальные пленки β-CIS. В пленках обнаружены зоны существования β-CIS и β- + γ-CIS, соответствующих псевдобинарной диаграмме состояния Cu₂Se–In₂Se₃. В кристалликах β-CIS установлены микродвойники по плоскостям (112) и двумерные дефекты по – (100). Двумерные дефекты образуются в результате сдвига в плоскости (001) на вектор типа R=½[110]. Это приводит к образованию антифазных границ по плоскостям (100) и (010) и дефектов упаковки по (001). На поверхні (001) кристалів KCl з підшаром PbS при температурі підкладки 400 ºС вирощені епітаксійні плівки β-CIS. У плівках виявлені зони існування β-CIS, й β- + γ-CIS, що відповідають псевдобінарної діаграмі стану Cu₂Se–In₂Se₃. У кристаликах β-CIS встановлені мікродвійники по площинах (112) й двовимірні дефекти по (100). Двовимірні дефекти утворюються в результаті зрушення в площині (001) на вектор типу R=1/2[110]. Це приводить до утворення антифазних границь по площинах (100) й (010) та дефектів упакування по площинах (001). β-CIS epitaxial films were grown on (001) KCl surface with PbS sublayer at 400 ºС. There were revealed the β-CIS and β- + γ-CIS zones, corresponding to Cu₂Se–In₂Se₃ pseudo-binary phase diagram. β-CIS crystallites revealed microtwins on (112) planes and two-dimensional defects on (100). The nature of such two-dimensional defects can be explained as a shift in the (001) β-CIS plane by a vector R = 1/2[110]. As a result, an antiphase boundary appears along the (100) and (010) planes and stacking faults along (001) planes. 2011 Article Эпитаксиальный рост плёнок тройной системы Сu–In–Se / С.Н. Григоров, А.В. Таран // Вопросы атомной науки и техники. — 2011. — № 6. — С. 141-144. — Бібліогр.: 11 назв. — рос. 1562-6016 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/111694 539.219.3 ru Вопросы атомной науки и техники Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
language Russian
topic Физика и технология конструкционных материалов
Физика и технология конструкционных материалов
spellingShingle Физика и технология конструкционных материалов
Физика и технология конструкционных материалов
Григоров, С.Н.
Таран, А.В.
Эпитаксиальный рост плёнок тройной системы Сu–In–Se
Вопросы атомной науки и техники
description На поверхности (001) кристаллов KCl с подслоем PbS при температуре подложки 400 ºС выращены эпитаксиальные пленки β-CIS. В пленках обнаружены зоны существования β-CIS и β- + γ-CIS, соответствующих псевдобинарной диаграмме состояния Cu₂Se–In₂Se₃. В кристалликах β-CIS установлены микродвойники по плоскостям (112) и двумерные дефекты по – (100). Двумерные дефекты образуются в результате сдвига в плоскости (001) на вектор типа R=½[110]. Это приводит к образованию антифазных границ по плоскостям (100) и (010) и дефектов упаковки по (001).
format Article
author Григоров, С.Н.
Таран, А.В.
author_facet Григоров, С.Н.
Таран, А.В.
author_sort Григоров, С.Н.
title Эпитаксиальный рост плёнок тройной системы Сu–In–Se
title_short Эпитаксиальный рост плёнок тройной системы Сu–In–Se
title_full Эпитаксиальный рост плёнок тройной системы Сu–In–Se
title_fullStr Эпитаксиальный рост плёнок тройной системы Сu–In–Se
title_full_unstemmed Эпитаксиальный рост плёнок тройной системы Сu–In–Se
title_sort эпитаксиальный рост плёнок тройной системы сu–in–se
publisher Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
publishDate 2011
topic_facet Физика и технология конструкционных материалов
url http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/111694
citation_txt Эпитаксиальный рост плёнок тройной системы Сu–In–Se / С.Н. Григоров, А.В. Таран // Вопросы атомной науки и техники. — 2011. — № 6. — С. 141-144. — Бібліогр.: 11 назв. — рос.
series Вопросы атомной науки и техники
work_keys_str_mv AT grigorovsn épitaksialʹnyjrostplënoktrojnojsistemysuinse
AT taranav épitaksialʹnyjrostplënoktrojnojsistemysuinse
first_indexed 2024-03-30T09:18:12Z
last_indexed 2024-03-30T09:18:12Z
_version_ 1796149805178683392