Новые возможности интегральной динамической дифрактометрии несовершенств кристаллов

• Дата: 2015
• Автори: Лизунов, В.В., Молодкин, В.Б., Олиховский, С.И., Лизунова, С.В., Толмачёв, Н.Г., Низкова, А.И., Скакунова, Е.С., Дмитриев, С.В., Шелудченко, Б.В., Василик, Я.В., Сыч, Т.Г., Фузик, Е.В., Лехняк, Р.В., Скапа, Л.Н.
• Формат: Стаття
• Мова: Russian
• Опубліковано: Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України 2015
• Назва видання: Металлофизика и новейшие технологии
• Теми: Взаимодействия излучения и частиц с конденсированным веществом
• Онлайн доступ: http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/111734
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Цитувати: Новые возможности интегральной динамической дифрактометрии несовершенств кристаллов / В. В. Лизунов, В. Б. Молодкин, С. И. Олиховский, С. В. Лизунова, Н. Г. Толмачёв, А. И. Низкова, Е. С. Скакунова, С. В. Дмитриев, Б. В. Шелудченко, Я. В. Василик, Т. Г. Сыч, Е. В. Фузик, Р. В. Лехняк, Л. Н. Скапа // Металлофизика и новейшие технологии. — 2015. — Т. 37, № 2. — С. 265-279. — Бібліогр.: 17 назв. — рос.

В предыдущей работе авторов [1] обсуждалось открытое ими неизвестное ранее явление управляемого условиями дифракции дисперсионного усиления на несколько порядков величины (в сравнении с традиционным кинематическим случаем диагностики) проявления дефектов в статистической картине динамического (многократного) рассеяния. Настоящая работа посвящена обсуждению наиболее важных следствий из этого открытого явления, которые обеспечили возникновение эффектов чувствительности (и при этом уникальной) к несовершенствам кристаллов полной (брэгговской и диффузной) интегральной интенсивности динамической дифракции (ПИИДД) и аномального вклада её диффузной составляющей, а также чувствительности к характеристикам дефектов появившихся сильных зависимостей ПИИДД от условий дифракции. Обсуждаются новые возможности и примеры использования измерений ПИИДД, вклада её диффузной составляющей и их зависимостей от различных условий динамической дифракции для неразрушающей экспрессной высокочувствительной и информативной диагностики несовершенств структуры многопараметрических систем.