Определение содержания легких элементов по совмещенным спектрам рентгеновской флуоресценции и дифракции
Разработан метод анализа материалов по совмещенным спектрам рентгеновской флуоресценции и дифракции. На примере стандартных образцов низколегированных сталей показано, что специально рассчитанная рентгенооптическая схема с вторичной мишенью позволяет уменьшить до Х = 5…6 мм расстояние от образца до...
Збережено в:
| Дата: | 2013 |
|---|---|
| Автори: | , , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Russian |
| Опубліковано: |
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
2013
|
| Назва видання: | Вопросы атомной науки и техники |
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/111751 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Определение содержания легких элементов по совмещенным спектрам рентгеновской флуоресценции и дифракции / И.Ф. Михайлов, А.А. Батурин, А.И. Михайлов, Л.П. Фомина // Вопросы атомной науки и техники. — 2013. — № 2. — С. 172-176. — Бібліогр.: 7 назв. — рос. |