2025-02-22T23:51:58-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: Query fl=%2A&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-114309%22&qt=morelikethis&rows=5

2025-02-22T23:51:58-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: => GET http://localhost:8983/solr/biblio/select?fl=%2A&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-114309%22&qt=morelikethis&rows=5

2025-02-22T23:51:58-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: <= 200 OK

2025-02-22T23:51:58-05:00 DEBUG: Deserialized SOLR response

Низкотемпературное сканирующее устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии

Разработано новое устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии с минимальными тепловыми шумами и увеличенным отношением сигнал/шум, в котором использован перемещающийся азотный заливной криостат с вмонтированными в него активными микроволновыми элементами....

Full description

Saved in:

Bibliographic Details
Main Authors:	Жарков, И.П., Иващенко, А.Н., Руденко, Э.М., Короташ, И.В., Краковный, А.А., Сафронов, В.В., Ходунов, В.А., Руденко, А.Э.
Format:	Article
Language:	Russian
Published:	Видавничий дім "Академперіодика" НАН України 2013
Series:	Наука та інновації
Subjects:	Наукові основи інноваційної діяльності
Online Access:	http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/114309
Tags:	Add Tag No Tags, Be the first to tag this record!

id	irk-123456789-114309
record_format	dspace
spelling	irk-123456789-1143092017-03-07T03:02:18Z Низкотемпературное сканирующее устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии Жарков, И.П. Иващенко, А.Н. Руденко, Э.М. Короташ, И.В. Краковный, А.А. Сафронов, В.В. Ходунов, В.А. Руденко, А.Э. Наукові основи інноваційної діяльності Разработано новое устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии с минимальными тепловыми шумами и увеличенным отношением сигнал/шум, в котором использован перемещающийся азотный заливной криостат с вмонтированными в него активными микроволновыми элементами. Розроблено новий пристрій для мікрохвильової неруйнівної дефектоскопії з мінімальними тепловими шумами й збільшеним відношенням сигнал/шум, в якому використано азотний заливний кріостат, що переміщається, із вмонтованими в нього активними мікрохвильовими елементами. The new device for microwave non-destructive defectoscopy with minimum thermal noises and increased signal / noise ratio, which used scanning nitrogen filled cryostat with integrated active microwave elements, is designed. 2013 Article Низкотемпературное сканирующее устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии / И.П. Жарков, А.Н. Иващенко, Э.М. Руденко, И.В. Короташ, А.А. Краковный, В.В. Сафронов, В.А. Ходунов, А.Э. Руденко // Наука та інновації. — 2013. — Т. 9, № 3. — С. 13-18. — Бібліогр.: 4 назв. — рос. 1815-2066 DOI: doi.org/10.15407/scin9.03.013 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/114309 ru Наука та інновації Видавничий дім "Академперіодика" НАН України
institution	Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection	DSpace DC
language	Russian
topic	Наукові основи інноваційної діяльності Наукові основи інноваційної діяльності
spellingShingle	Наукові основи інноваційної діяльності Наукові основи інноваційної діяльності Жарков, И.П. Иващенко, А.Н. Руденко, Э.М. Короташ, И.В. Краковный, А.А. Сафронов, В.В. Ходунов, В.А. Руденко, А.Э. Низкотемпературное сканирующее устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии Наука та інновації
description	Разработано новое устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии с минимальными тепловыми шумами и увеличенным отношением сигнал/шум, в котором использован перемещающийся азотный заливной криостат с вмонтированными в него активными микроволновыми элементами.
format	Article
author	Жарков, И.П. Иващенко, А.Н. Руденко, Э.М. Короташ, И.В. Краковный, А.А. Сафронов, В.В. Ходунов, В.А. Руденко, А.Э.
author_facet	Жарков, И.П. Иващенко, А.Н. Руденко, Э.М. Короташ, И.В. Краковный, А.А. Сафронов, В.В. Ходунов, В.А. Руденко, А.Э.
author_sort	Жарков, И.П.
title	Низкотемпературное сканирующее устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии
title_short	Низкотемпературное сканирующее устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии
title_full	Низкотемпературное сканирующее устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии
title_fullStr	Низкотемпературное сканирующее устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии
title_full_unstemmed	Низкотемпературное сканирующее устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии
title_sort	низкотемпературное сканирующее устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии
publisher	Видавничий дім "Академперіодика" НАН України
publishDate	2013
topic_facet	Наукові основи інноваційної діяльності
url	http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/114309
citation_txt	Низкотемпературное сканирующее устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии / И.П. Жарков, А.Н. Иващенко, Э.М. Руденко, И.В. Короташ, А.А. Краковный, В.В. Сафронов, В.А. Ходунов, А.Э. Руденко // Наука та інновації. — 2013. — Т. 9, № 3. — С. 13-18. — Бібліогр.: 4 назв. — рос.
series	Наука та інновації
work_keys_str_mv	AT žarkovip nizkotemperaturnoeskaniruûŝeeustrojstvodlâmikrovolnovojnerazrušaûŝejdefektoskopii AT ivaŝenkoan nizkotemperaturnoeskaniruûŝeeustrojstvodlâmikrovolnovojnerazrušaûŝejdefektoskopii AT rudenkoém nizkotemperaturnoeskaniruûŝeeustrojstvodlâmikrovolnovojnerazrušaûŝejdefektoskopii AT korotašiv nizkotemperaturnoeskaniruûŝeeustrojstvodlâmikrovolnovojnerazrušaûŝejdefektoskopii AT krakovnyjaa nizkotemperaturnoeskaniruûŝeeustrojstvodlâmikrovolnovojnerazrušaûŝejdefektoskopii AT safronovvv nizkotemperaturnoeskaniruûŝeeustrojstvodlâmikrovolnovojnerazrušaûŝejdefektoskopii AT hodunovva nizkotemperaturnoeskaniruûŝeeustrojstvodlâmikrovolnovojnerazrušaûŝejdefektoskopii AT rudenkoaé nizkotemperaturnoeskaniruûŝeeustrojstvodlâmikrovolnovojnerazrušaûŝejdefektoskopii
first_indexed	2023-10-18T20:24:28Z
last_indexed	2023-10-18T20:24:28Z
_version_	1796150073944440832

Низкотемпературное сканирующее устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии

Similar Items