Низкотемпературное сканирующее устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии

Низкотемпературное сканирующее устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии

Разработано новое устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии с минимальными тепловыми шумами и увеличенным отношением сигнал/шум, в котором использован перемещающийся азотный заливной криостат с вмонтированными в него активными микроволновыми элементами....

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2013
Автори: Жарков, И.П., Иващенко, А.Н., Руденко, Э.М., Короташ, И.В., Краковный, А.А., Сафронов, В.В., Ходунов, В.А., Руденко, А.Э.
Формат: Стаття
Мова:Russian
Опубліковано: Видавничий дім "Академперіодика" НАН України 2013
Назва видання:Наука та інновації
Теми:
Наукові основи інноваційної діяльності
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/114309
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Низкотемпературное сканирующее устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии / И.П. Жарков, А.Н. Иващенко, Э.М. Руденко, И.В. Короташ, А.А. Краковный, В.В. Сафронов, В.А. Ходунов, А.Э. Руденко // Наука та інновації. — 2013. — Т. 9, № 3. — С. 13-18. — Бібліогр.: 4 назв. — рос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id irk-123456789-114309
record_format dspace
spelling irk-123456789-1143092017-03-07T03:02:18Z Низкотемпературное сканирующее устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии Жарков, И.П. Иващенко, А.Н. Руденко, Э.М. Короташ, И.В. Краковный, А.А. Сафронов, В.В. Ходунов, В.А. Руденко, А.Э. Наукові основи інноваційної діяльності Разработано новое устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии с минимальными тепловыми шумами и увеличенным отношением сигнал/шум, в котором использован перемещающийся азотный заливной криостат с вмонтированными в него активными микроволновыми элементами. Розроблено новий пристрій для мікрохвильової неруйнівної дефектоскопії з мінімальними тепловими шумами й збільшеним відношенням сигнал/шум, в якому використано азотний заливний кріостат, що переміщається, із вмонтованими в нього активними мікрохвильовими елементами. The new device for microwave non-destructive defectoscopy with minimum thermal noises and increased signal / noise ratio, which used scanning nitrogen filled cryostat with integrated active microwave elements, is designed. 2013 Article Низкотемпературное сканирующее устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии / И.П. Жарков, А.Н. Иващенко, Э.М. Руденко, И.В. Короташ, А.А. Краковный, В.В. Сафронов, В.А. Ходунов, А.Э. Руденко // Наука та інновації. — 2013. — Т. 9, № 3. — С. 13-18. — Бібліогр.: 4 назв. — рос. 1815-2066 DOI: doi.org/10.15407/scin9.03.013 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/114309 ru Наука та інновації Видавничий дім "Академперіодика" НАН України
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
language Russian
topic Наукові основи інноваційної діяльності
Наукові основи інноваційної діяльності
spellingShingle Наукові основи інноваційної діяльності
Наукові основи інноваційної діяльності
Жарков, И.П.
Иващенко, А.Н.
Руденко, Э.М.
Короташ, И.В.
Краковный, А.А.
Сафронов, В.В.
Ходунов, В.А.
Руденко, А.Э.
Низкотемпературное сканирующее устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии
Наука та інновації
description Разработано новое устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии с минимальными тепловыми шумами и увеличенным отношением сигнал/шум, в котором использован перемещающийся азотный заливной криостат с вмонтированными в него активными микроволновыми элементами.
format Article
author Жарков, И.П.
Иващенко, А.Н.
Руденко, Э.М.
Короташ, И.В.
Краковный, А.А.
Сафронов, В.В.
Ходунов, В.А.
Руденко, А.Э.
author_facet Жарков, И.П.
Иващенко, А.Н.
Руденко, Э.М.
Короташ, И.В.
Краковный, А.А.
Сафронов, В.В.
Ходунов, В.А.
Руденко, А.Э.
author_sort Жарков, И.П.
title Низкотемпературное сканирующее устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии
title_short Низкотемпературное сканирующее устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии
title_full Низкотемпературное сканирующее устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии
title_fullStr Низкотемпературное сканирующее устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии
title_full_unstemmed Низкотемпературное сканирующее устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии
title_sort низкотемпературное сканирующее устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии
publisher Видавничий дім "Академперіодика" НАН України
publishDate 2013
topic_facet Наукові основи інноваційної діяльності
url http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/114309
citation_txt Низкотемпературное сканирующее устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии / И.П. Жарков, А.Н. Иващенко, Э.М. Руденко, И.В. Короташ, А.А. Краковный, В.В. Сафронов, В.А. Ходунов, А.Э. Руденко // Наука та інновації. — 2013. — Т. 9, № 3. — С. 13-18. — Бібліогр.: 4 назв. — рос.
series Наука та інновації
work_keys_str_mv AT žarkovip nizkotemperaturnoeskaniruûŝeeustrojstvodlâmikrovolnovojnerazrušaûŝejdefektoskopii
AT ivaŝenkoan nizkotemperaturnoeskaniruûŝeeustrojstvodlâmikrovolnovojnerazrušaûŝejdefektoskopii
AT rudenkoém nizkotemperaturnoeskaniruûŝeeustrojstvodlâmikrovolnovojnerazrušaûŝejdefektoskopii
AT korotašiv nizkotemperaturnoeskaniruûŝeeustrojstvodlâmikrovolnovojnerazrušaûŝejdefektoskopii
AT krakovnyjaa nizkotemperaturnoeskaniruûŝeeustrojstvodlâmikrovolnovojnerazrušaûŝejdefektoskopii
AT safronovvv nizkotemperaturnoeskaniruûŝeeustrojstvodlâmikrovolnovojnerazrušaûŝejdefektoskopii
AT hodunovva nizkotemperaturnoeskaniruûŝeeustrojstvodlâmikrovolnovojnerazrušaûŝejdefektoskopii
AT rudenkoaé nizkotemperaturnoeskaniruûŝeeustrojstvodlâmikrovolnovojnerazrušaûŝejdefektoskopii
first_indexed 2023-10-18T20:24:28Z
last_indexed 2023-10-18T20:24:28Z
_version_ 1796150073944440832

Схожі ресурси