Низкотемпературное сканирующее устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии

• Дата: 2013
• Автори: Жарков, И.П., Иващенко, А.Н., Руденко, Э.М., Короташ, И.В., Краковный, А.А., Сафронов, В.В., Ходунов, В.А., Руденко, А.Э.
• Формат: Стаття
• Мова: Russian
• Опубліковано: Видавничий дім "Академперіодика" НАН України 2013
• Назва видання: Наука та інновації
• Теми: Наукові основи інноваційної діяльності
• Онлайн доступ: http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/114309
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Цитувати: Низкотемпературное сканирующее устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии / И.П. Жарков, А.Н. Иващенко, Э.М. Руденко, И.В. Короташ, А.А. Краковный, В.В. Сафронов, В.А. Ходунов, А.Э. Руденко // Наука та інновації. — 2013. — Т. 9, № 3. — С. 13-18. — Бібліогр.: 4 назв. — рос.

Разработано новое устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии с минимальными тепловыми шумами и увеличенным отношением сигнал/шум, в котором использован перемещающийся азотный заливной криостат с вмонтированными в него активными микроволновыми элементами....