Crystallization kinetics of Ge₂₂Sb₂₂Tе₅₆ doped with Se and Ni

Effects of Ni and Se incorporation on the crystallization kinetics of Ge:Sb:Te alloys have been studied. Both elements were found to increase the stability of the amorphous structure. The kinetics of crystallization under isothermal treatments indicates that Ni reduces both the barrier for thermal c...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:1998
Автори: Garsia-Garsia, E., Yanez-Limon, M., Vorobiev, Y., Espinoza-Beltran, F., Gonzalez-Hernandez, J.
Формат: Стаття
Мова:English
Опубліковано: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 1998
Назва видання:Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/114673
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Crystallization kinetics of Ge₂₂Sb₂₂Tе₅₆ doped with Se and Ni / E. Garsia-Garsia, M. Yanez-Limon, Y. Vorobiev, F. Espinoza-Beltran, J. Gonzalez-Hernandez // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 1998. — Т. 1, № 1. — С. 71-74. — Бібліогр.: 8 назв. — англ.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id irk-123456789-114673
record_format dspace
spelling irk-123456789-1146732017-03-12T03:02:22Z Crystallization kinetics of Ge₂₂Sb₂₂Tе₅₆ doped with Se and Ni Garsia-Garsia, E. Yanez-Limon, M. Vorobiev, Y. Espinoza-Beltran, F. Gonzalez-Hernandez, J. Effects of Ni and Se incorporation on the crystallization kinetics of Ge:Sb:Te alloys have been studied. Both elements were found to increase the stability of the amorphous structure. The kinetics of crystallization under isothermal treatments indicates that Ni reduces both the barrier for thermal crystallization and the crystallization rate. Crystallization of samples containing Se is also retarded, possibly due to a stronger bonding of this element in comparison with Te. Вивчено вплив Ni и Se на кiнетику кристалiзацiї Ge:Sb:Te сплавiв. Виявлено, що обидва елементи пiдвищують стабiльнiсть аморфної структури. Кiнетика кристалiзацiї при iзотермiчнiй обробцi показує, що Ni зменшує як бар.єр термiчної кристалiзацiї, так i швидкiсть кристалiзацiї. Кристалiзацiя зразкiв, якi мiстять Se також уповiльнена, можливо завдяки бiльш сильній енергії зв.язку цього елементу в порiвняннi з Te. Изучено влияние Ni и Se на кинетику кристаллизации Ge:Sb:Te сплавов. Установлено, что оба элемента повышают стабильность аморфной структуры. Кинетика кристаллизации при изотермической обработке показывает, что Ni уменьшает как барьер термической кристаллизации так и скорость кристаллизации. Кристаллизация образцов, содержащих Se также замедленная, возможно благодаря более сильной энергии связи элемента по сравнению с Te. 1998 Article Crystallization kinetics of Ge₂₂Sb₂₂Tе₅₆ doped with Se and Ni / E. Garsia-Garsia, M. Yanez-Limon, Y. Vorobiev, F. Espinoza-Beltran, J. Gonzalez-Hernandez // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 1998. — Т. 1, № 1. — С. 71-74. — Бібліогр.: 8 назв. — англ. 1560-8034 PACS 61.72.V; 72.80.E http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/114673 en Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
language English
description Effects of Ni and Se incorporation on the crystallization kinetics of Ge:Sb:Te alloys have been studied. Both elements were found to increase the stability of the amorphous structure. The kinetics of crystallization under isothermal treatments indicates that Ni reduces both the barrier for thermal crystallization and the crystallization rate. Crystallization of samples containing Se is also retarded, possibly due to a stronger bonding of this element in comparison with Te.
format Article
author Garsia-Garsia, E.
Yanez-Limon, M.
Vorobiev, Y.
Espinoza-Beltran, F.
Gonzalez-Hernandez, J.
spellingShingle Garsia-Garsia, E.
Yanez-Limon, M.
Vorobiev, Y.
Espinoza-Beltran, F.
Gonzalez-Hernandez, J.
Crystallization kinetics of Ge₂₂Sb₂₂Tе₅₆ doped with Se and Ni
Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
author_facet Garsia-Garsia, E.
Yanez-Limon, M.
Vorobiev, Y.
Espinoza-Beltran, F.
Gonzalez-Hernandez, J.
author_sort Garsia-Garsia, E.
title Crystallization kinetics of Ge₂₂Sb₂₂Tе₅₆ doped with Se and Ni
title_short Crystallization kinetics of Ge₂₂Sb₂₂Tе₅₆ doped with Se and Ni
title_full Crystallization kinetics of Ge₂₂Sb₂₂Tе₅₆ doped with Se and Ni
title_fullStr Crystallization kinetics of Ge₂₂Sb₂₂Tе₅₆ doped with Se and Ni
title_full_unstemmed Crystallization kinetics of Ge₂₂Sb₂₂Tе₅₆ doped with Se and Ni
title_sort crystallization kinetics of ge₂₂sb₂₂tе₅₆ doped with se and ni
publisher Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
publishDate 1998
url http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/114673
citation_txt Crystallization kinetics of Ge₂₂Sb₂₂Tе₅₆ doped with Se and Ni / E. Garsia-Garsia, M. Yanez-Limon, Y. Vorobiev, F. Espinoza-Beltran, J. Gonzalez-Hernandez // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 1998. — Т. 1, № 1. — С. 71-74. — Бібліогр.: 8 назв. — англ.
series Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
work_keys_str_mv AT garsiagarsiae crystallizationkineticsofge22sb22te56dopedwithseandni
AT yanezlimonm crystallizationkineticsofge22sb22te56dopedwithseandni
AT vorobievy crystallizationkineticsofge22sb22te56dopedwithseandni
AT espinozabeltranf crystallizationkineticsofge22sb22te56dopedwithseandni
AT gonzalezhernandezj crystallizationkineticsofge22sb22te56dopedwithseandni
first_indexed 2023-10-18T20:25:06Z
last_indexed 2023-10-18T20:25:06Z
_version_ 1796150101504163840